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    Structural and electrical studies on Bi2VO5.5/Bi4Ti3O12 multilayer thin films
    KUMARI, Neelam ; KRUPANIDHI, S. B ; et al.
    In: Journal of materials science. Materials in electronics, Jg. 22 (2011), Heft 6, S. 639-648
    Online academicJournal
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    Structural, optical and electrical characteristics of transparent bismuth vanadate films deposited on indium tin oxide coated glass substrates
    KUMARI, Neelam ; KRUPANIDHI, S. B ; et al.
    In: Journal of materials science. Materials in electronics, Jg. 21 (2010), Heft 11, S. 1107-1114
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Structural, ferroelectric and optical properties of Bi2VO5.5 thin films deposited on platinized silicon {(100) Pt/TiO2/SiO2/Si} substrates
    KUMARI, N ; KRUPANIDHI, S. B ; et al.
    In: Applied physics. A, Materials science & processing (Print), Jg. 91 (2008), Heft 4, S. 693-699
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    C-V studies on metal-ferroelectric bismuth vanadate (Bi2VO5.5)-semiconductor structure
    KUMARI, Neelam ; PARUI, Jayanta ; et al.
    In: Solid state communications, Jg. 137 (2006), Heft 10, S. 566-569
    academicJournal
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    Growth and ferroelectric properties of Bi2Vo5.5 thin films with metallic LaNiO3 electrodes
    PRASAD, K. V. R ; VARMA, K. B. R ; et al.
    In: Applied physics letters, Jg. 63 (1993), Heft 14, S. 1898-1900
    Online academicJournal
    Zugriff:
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