Zum Hauptinhalt springen

Suchergebnisse

UB Katalog
Ermittle Trefferzahl…

Artikel & mehr
72 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Meinten Sie us?

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

72 Treffer

Sortierung: 
  1. FRERICHS, Martin ; VOIGTS, Florian ; et al.
    In: 13th Applied Surface Analysis Workshop, Dresden, September 14th-17th 2004 (AOFA 13), Jg. 252 (2005), Heft 1, S. 108-112
    Konferenz
  2. SIOKOU, A ; RAVANI, F ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 257 (2011), Heft 23, S. 9785-9790
    academicJournal
  3. WU, Qi-Hui ; THISSEN, A ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 252 (2005), Heft 5, S. 1801-1805
    academicJournal
  4. ZAHN, W ; HILDEBRAND, D ; et al.
    In: 13th Applied Surface Analysis Workshop, Dresden, September 14th-17th 2004 (AOFA 13), Jg. 252 (2005), Heft 1, S. 89-93
    Konferenz
  5. DAHLE, S ; MEUTHEN, J ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 284 (2013), S. 514-522
    academicJournal
  6. BLUMENTRIT, Petr ; YOSHITAKE, Michiko ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 258 (2011), Heft 2, S. 780-785
    academicJournal
  7. BAER, D. R ; GORDON, R. L ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 45 (1990), Heft 1, S. 71-83
    academicJournal
  8. PRAMADA, KULKARNI ; SUKANYA, SATHE ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 37 (1989), Heft 4, S. 419-438
    academicJournal
  9. ARBI, I ; BEN HAMADA, B ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 305 (2014), S. 396-401
    academicJournal
  10. ABAD, J ; ROGERO, C ; et al.
    In: The Ninth International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces, ICFSI-9, Madrid, ETSII, Spain, September 15-19, 2003, Jg. 234 (2004), Heft 1-4, S. 497-502
    Konferenz
  11. WU, Qi-Hui ; THISSEN, A ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 236 (2004), Heft 1-4, S. 473-478
    academicJournal
  12. CAI, Q. J ; LING, Q. D ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 222 (2004), Heft 1-4, S. 399-408
    academicJournal
  13. WANG, Jer-Chyi ; YE, Yu-Ren ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 276 (2013), S. 497-501
    academicJournal
  14. TSENG, Chun-An ; LIN, Jing-Chie ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 258 (2012), Heft 16, S. 5996-6002
    academicJournal
  15. HAENSEL, T ; COMOUTH, A ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 255 (2009), Heft 18, S. 8183-8189
    academicJournal
  16. KOWALCZYK, P. J ; PUCHALSKI, M ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 254 (2008), Heft 15, S. 4572-4576
    academicJournal
  17. WU, Qi-Hui ; THISSEN, A ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 250 (2005), Heft 1-4, S. 57-62
    academicJournal
  18. WEIJIE, SONG ; YOSHITAKE, Michiko
    In: The 5th International Vacuum Electron Sources Conference (IVESC 2004), Beijing, China, September 6-10, Jg. 251 (2005), Heft 1-4, S. 14-18
    Konferenz
  19. TORRENGO, S ; CANTERI, R ; et al.
    In: Applied surface science, Jg. 276 (2013), S. 101-111
    academicJournal
  20. XIAOFENG, YU ; RAAEN, Steinar
    In: Applied surface science, Jg. 270 (2013), S. 364-369
    academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -