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    Synthesis, structure and optical properties of thin films from GeS2-In2S3 system deposited by thermal co-evaporation
    TODOROV, R ; PETKOV, K ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 558 (2014), S. 298-305
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Strained ferroelectric NaNbO3 thin films: Impact of pulsed laser deposition growth conditions on structural properties
    SELLMANN, Jan ; SCHWARZKOPF, Jutta ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 570 (2014), S. 107-113
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of SiCN thin films: Experimental and theoretical investigations
    IVASHCHENKO, V. I ; KOZAK, A. O ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 569 (2014), S. 57-63
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Atomic layer deposition of strontium titanate films from Sr(iPr3Cp)2, Ti[N(CH3)2]4 and H2O
    RENTROP, S ; MOEBUS, T ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 550 (2014), S. 53-58
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Monitoring In-Ga interdiffusion during chalcopyrite formation in GaxSy-(Cu, In) photovoltaic precursor layers
    WEBER, A ; KÖTSCHAU, I ; et al.
    In: Proceedings of Symposium O on thin film chalcogenide photovoltaic materials, EMRS 2006 conference, Nice, France, May 29-June 2, Jg. 515 (2007), Heft 15, S. 6252-6255
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical, luminescent and photovoltaic properties of the indium tin oxide-GaSe heterojunctions with a thin layer of gallium oxide
    DRAPAK, S. I ; KATERYNCHYK, V. M ; et al.
    In: Proceedings of Symposium J on Synthesis Processing and Characterization of Nanoscale Functional Oxide Films - EMRS 2006 Conference, Nice, May 29-June 2, Jg. 515 (2007), Heft 16, S. 6356-6359
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Comparative study of CdS/CdTe cells fabricated with and without evaporated Te-layer
    POTLOG, T ; GHIMPU, L ; et al.
    In: Proceedings of Symposium O on thin film chalcogenide photovoltaic materials, EMRS 2006 conference, Nice, France, May 29-June 2, Jg. 515 (2007), Heft 15, S. 5824-5827
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    UV optical properties of ferromagnetic mn-doped ZnO thin films grown by PLD
    DIACONU, Mariana ; SCHMIDT, Heidemarie ; et al.
    In: Oxide electronics, Jg. 486 (2005), Heft 1-2, S. 117-121
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    High-temperature conductivity evaluation of Nb doped SrTiO3 thin films: Influence of strain and growth mechanism
    AGUESSE, Frédéric ; AXELSSON, Anna-Karin ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 539 (2013), S. 384-390
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Atomic layer deposition of TiO2 from tetrakis(dimethylamino) titanium and H2O
    ABENDROTH, Barbara ; MOEBUS, Theresa ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 545 (2013), S. 176-182
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Molecular organization in the thin films of chloroaluminium hexadecafluorophthalocyanine revealed by polarized Raman spectroscopy
    BASOVA, Tamara V ; KISELEV, Vitaly G ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 548 (2013), S. 650-656
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Multilayer model for determining the thickness and refractive index of sol―gel coatings via laser ellipsometry
    LOKE, Vincent L. Y ; RIEFLER, Norbert ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 531 (2013), S. 93-98
    academicJournal
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    Optical and structural investigation of ZnO thin films prepared by chemical vapor deposition (CVD)
    PURICA, M ; BUDIANU, E ; et al.
    In: Proceeding of Symposium P on Thin Film Materials for Photovoltaics, E-MRS Spring Conference, Strasbourg, France, June 5-8, 2001, Jg. 403-04 (2002), S. 485-488
    Konferenz
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    Crossover from dirty to clean superconducting limit in dc magnetron-sputtered thin Nb films
    DOBROVOLSKIY, Oleksandr V ; HUTH, Michael
    In: Thin solid films, Jg. 520 (2012), Heft 18, S. 5985-5990
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Analysis of III-V layer stacks on INP substrates using spectroscopic ellipsometry in the NIR spectral range
    BUKKEMS, H. G ; OEI, Y. S ; et al.
    In: Papers presented at the 1999 E-MRS Spring Conference, Symposium P: Optical Characterization of Semiconductor Layers and Surfaces, Strasbourg, France, June 1-4, Jg. 364 (2000), Heft 1-2, S. 165-170
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Fe3O4 on ZnO: A spectroscopic study of film and interface properties
    MÜLLER, A ; RUFF, A ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 520 (2011), Heft 1, S. 368-373
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Spectroscopic ellipsometry studies on the optical constants of Bi4Ti3O12:xNa thin films grown by metal-organic chemical vapor deposition
    BIN ANOOZ, S ; SCHWARZKOPF, J ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 519 (2011), Heft 11, S. 3782-3788
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    On the photoluminescence of multilayer arrays of silicon rich oxide with high silicon content prepared by low pressure chemical vapor deposition
    QUIROGA-GONZALEZ, E ; BENSCH, W ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 519 (2011), Heft 22, S. 8030-8036
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Comparative study of hydrothermal treatment and thermal annealing effects on the properties of electrodeposited micro-columnar ZnO thin films
    LUPAN, O ; PAUPORTE, T ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 519 (2011), Heft 22, S. 7738-7749
    academicJournal
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    Optical characterization of thin chalcogenide films by multiple-angle-of-incidence ellipsometry
    TODOROV, R ; PANEVA, A ; et al.
    In: Thin solid films, Jg. 518 (2010), Heft 12, S. 3280-3288
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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