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  1. Huang, Y. ; Lu, F. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-09-01), Heft 9, S. 1274-1274
    Online academicJournal
  2. Gu, X. ; Nemoto, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-05-01), Heft 5, S. 1445-1453
    Online academicJournal
  3. Xu, L. ; Lu, W. ; et al.
    In: 2016 IEEE International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale (3M-NANO), 2016-07-01, S. 191-194
    Konferenz
  4. Higashiwaki, M. ; Mimura, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-06-01), Heft 6, S. 1566-1570
    Online academicJournal
  5. Diaz, J. M. A. ; Kambara, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 37 (2009-09-01), Heft 9, S. 1723-1729
    Online academicJournal
  6. Lai, Chun Chi ; Li, Liang Yi ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Next-Generation Electronics (ISNE), 2014-05-01, S. 1-2
    Konferenz
  7. Johnson, A.D. ; Ridgeway, R.G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 17 (2004-11-01), Heft 4, S. 491-496
    Online academicJournal
  8. Lee, J.I. ; Park, H. ; et al.
    In: 2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007-06-01, S. 102
    Konferenz
  9. Tachibana, T. ; Kojima, T. ; et al.
    In: 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2015-06-01, S. 1-4
    Konferenz
  10. Baracu, Angela ; Pascu, Razvan ; et al.
    In: 2014 International Semiconductor Conference (CAS), 2014-10-01, S. 121-124
    Konferenz
  11. Renteria, E. J. ; Addamane, S. J. ; et al.
    In: 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2015-06-01, S. 1-3
    Konferenz
  12. Radecker, J. ; Weber, H.
    In: Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop, 2003 IEEEI/SEMI, 2003, S. 125-130
    Konferenz
  13. Noda, S. ; Hagiwara, K. ; et al.
    In: Conference Record of the Twenty-Ninth IEEE Photovoltaic Specialists Conference,, 2002, S. 308-311
    Konferenz
  14. Nakamura, T.
    In: 2001 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing. ISSM 2001. Conference Proceedings (Cat. No.01CH37203), 2001, S. 117-120
    Konferenz
  15. Choi, D. ; Nozu, D. ; et al.
    In: 2001 IEEE International Symposium on Semiconductor Manufacturing. ISSM 2001. Conference Proceedings (Cat. No.01CH37203), 2001, S. 301-304
    Konferenz
  16. Arnal, V. ; Hoofman, R.J.O.M. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729), 2004, S. 202-240
    Konferenz
  17. Won, Seok-Jun ; Kim, Wan-Don ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138), 2000, S. 789-792
    Konferenz
  18. Tsang, C.F. ; Su, Y.J. ; et al.
    In: Proceedings of the 10th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2003, 2003, S. 63-68
    Konferenz
  19. Bao, T.I. ; Ko, C.C. ; et al.
    In: Digest. International Electron Devices Meeting, 2002, S. 583-586
    Konferenz
  20. Saino, K. ; Okonogi, K. ; et al.
    In: International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217), 1998, S. 149-152
    Konferenz
xs 0 - 576
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xl 1200 - 1366
xxl 1366 -