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  1. ZHI, ZHANG ; XIANGHUI, YUAN ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 7, S. 680-684
    Online academicJournal
  2. MENG, Xiang-Ti ; KANG, Ai-Guo ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 1, S. L1- (3S.)
    Online academicJournal
  3. FIORENZA, J. G ; BRAITHWAITE, G ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 19 (2004), Heft 1, S. L4- (5S.)
    Online academicJournal
  4. TODD, Shane T ; JAIN, Ankur ; et al.
    In: Journal of optics. A, Pure and applied optics (Print), Jg. 8 (2006), Heft 7
    Online Konferenz
  5. KISSINGER, G ; GRÄF, D ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 12 (1997), Heft 7, S. 933-937
    Online academicJournal
  6. STONE, S ; BUSHELL, G ; et al.
    In: 6th international congress on optical particle characterization, Brighton, April 2001, Jg. 13 (2002), Heft 3, S. 357-364
    Online Konferenz
  7. KONOFAOS, N ; EVANGELOU, E. K ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 19 (2004), Heft 1, S. 50-53
    Online academicJournal
  8. LEADLEY, D. R ; FISCHER, H ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 11, S. 945-949
    Online academicJournal
  9. GONTRAND, C ; HADDAB, Y ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 10 (1995), Heft 10, S. 1393-1403
    Online academicJournal
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