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    A novel CMOS readout circuit for large format IRFPA with background current storage suppression
    ZHI, ZHANG ; XIANGHUI, YUAN ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 18 (2003), Heft 9, S. 881-886
    Online academicJournal
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    A novel STI etching technology to mitigate an inverse narrow width effect, and improve device performances for 90 nm node and beyond CMOS technology
    CHIU, H. Y ; FANG, Y. K ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 22 (2007), Heft 10, S. 1157-1160
    Online academicJournal
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    Relative performance of three nanoscale devices : CMOS, RTDs and QCAs : against a standard computing task
    NIKOLIC, K ; BERZON, D ; et al.
    In: Nanotechnology (Bristol. Print), Jg. 12 (2001), Heft 1, S. 38-43
    Online academicJournal
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    Strained SOI/SGOI dual-channel CMOS technology based on the ge condensation technique
    TEZUKA, Tsutomu ; NAKAHARAI, Shu ; et al.
    In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1
    Online Konferenz
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    Enhancing CMOS transistor performance using lattice-mismatched materials in source/drain regions
    YEO, Yee-Chia
    In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1
    Online Konferenz
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    Ultra-energy-efficient analog-to-digital converters based on single-electron transistor/CMOS hybrid technology for biomedical applications
    JIEUN, LEE ; CHOI, Changmin ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 24 (2009), Heft 11
    Online academicJournal
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    Design and optimization of different P-channel LUDMOS architectures on a 0.18 μm SOI-CMOS technology
    CORTES, I ; TOULON, G ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 26 (2011), Heft 7
    Online academicJournal
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    Effect of the gate scaling on the analogue performance of s-Si CMOS devices
    FOBELETS, K ; CALVO-GALLEGO, J ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 26 (2011), Heft 9
    Online academicJournal
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    Towards large scale CMOS single-photon detector arrays for lab-on-chip applications : Micro-pixellated LEDs for science and instrumentation
    CHARBON, Edoardo
    In: Journal of physics. D, Applied physics (Print), Jg. 41 (2008), Heft 9
    Online academicJournal
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    Comparative study on the energy efficiency of logic gates based on single-electron transistor technology
    CHOI, Changmin ; LEE, Jieun ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 24 (2009), Heft 6
    Online academicJournal
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    Radio-frequency performance of a sub-100 nm metal-oxide field-effect transistor with high-k gate dielectric
    KAKUSHIMA, K ; NAKAGAWA, M ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 25 (2010), Heft 4
    Online academicJournal
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    X-band and K-band low-phase-noise VCOs using SiGe BiCMOS technology
    TARTARIN, J. G ; WONG, K. W
    In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1
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    High-performance BiCMOS technologies without epitaxially-buried subcollectors and deep trenches
    HEINEMANN, B ; BARTH, R ; et al.
    In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1
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    Effective surface treatments for selective epitaxial sige growth in locally strained pMOSFETs
    CHENG, P. L ; LIAO, C. I ; et al.
    In: 3rd International SiGe Technology and Device Meeting (Princeton, New Jersey, 15-17 May 2006), Jg. 22 (2007), Heft 1
    Online Konferenz
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    Performance simulation of a three-dimensional nanoscale field-effect diode
    IMAN REZANEJAD, GATABI ; RAISSI, Farshid
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 26 (2011), Heft 4
    Online academicJournal
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    Performance improvement of the EEPROM cells with the standard logic process featuring a metal finger coupling capacitor
    POREN, TANG ; RU, HUANG ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 25 (2010), Heft 12
    Online academicJournal
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    High-frequency compact analytical noise model of gate-all-around MOSFETs
    LAZARO, A ; NAE, B ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 25 (2010), Heft 3
    Online academicJournal
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    Dopant-segregated Schottky barrier MOSFETs with an insulated dielectric oxide
    SHIH, Chun-Hsing ; LIN, Ching-Chang
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 25 (2010), Heft 6
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    Single halo SDODEL n-MOSFET : an alternative low-cost pseudo-SOI with better analog performance
    SARKAR, Partha ; MALLIK, Abhijit ; et al.
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 24 (2009), Heft 3
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    RF and noise model of gate-all-around MOSFETs
    LAZARO, A ; INIGUEZ, B
    In: Semiconductor science and technology, Jg. 23 (2008), Heft 7
    Online academicJournal
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