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209 Treffer

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    PVT variations aware low leakage INDEP approach for nanoscale CMOS circuits
    VIJAY KUMAR, SHARMA ; PATTANAIK, Manisha ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 90-99
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    ISGP: Iterative sequential geometric programming for precise and robust CMOS analog circuit sizing
    KUNDU, Sudip ; MANDAL, Pradip
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 4, S. 510-531
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Design of two Low-Power full adder cells using GDI structure and hybrid CMOS logic style
    FOROUTAN, Vahid ; MOHAMMAD REZA, TAHERI ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 1, S. 48-61
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A defect-based compact modeling approach for the reliability of CMOS devices and integrated circuits
    ESQUEDA, Ivan S ; BARNABY, Hugh J
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 81-86
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Post-processing and performance analysis of BEOL integrated MEMS pressure sensor capacitors in 8-metal 130 nm CMOS
    ANANIAH DURAI, SUNDARARAJAN ; REZAUL HASAN, S. M
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 89-94
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Proximity gettering of slow diffuser contaminants in CMOS image sensors
    RUSSO, F ; MOCCIA, G ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 91-99
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A method of eliminating the signal-dependent random noise from the raw CMOS image sensor data based on Kalman filter
    YU, ZHANG ; GUANGYI, WANG ; et al.
    In: Signal processing, Jg. 104 (2014), S. 401-406
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Passivation issues in active pixel CMOS image sensors
    REGOLINI, J. L ; BENOIT, D ; et al.
    In: 14TH Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006), Jg. 47 (2007), Heft 4-5, S. 739-742
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of high-permittivity dielectrics on speed performances and power consumption in double-gate-based CMOS circuits
    LOUSSIER, X ; MUNTEANU, D ; et al.
    In: SiO2, advanced dielectrics and related devices, Mondelo, Palermo, Italy, June 25-28, 2006, Jg. 353 (2007), Heft 5-7, S. 639-644
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    MASTAR VA: A predictive and flexible compact model for digital performances evaluation of CMOS technology with conventional CAD tools
    LACORD, Joris ; GHIBAUDO, Gérard ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 137-146
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Engineering buried oxide in dopant-segregated Schottky barrier SOI MOSFET for nanoscale CMOS circuits
    PATIL, Ganesh C ; QURESHI, S
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355
    academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A new approach to the modeling of oxide breakdown on CMOS circuits
    FERNANDEZ, R ; RODRIGUEZ, R ; et al.
    In: Reliability of electron devices, failure physics and analysis, Jg. 44 (2004), Heft 9-11, S. 1519-1522
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Analytical modelling of size effects on the lateral photoresponse of CMOS photodiodes
    BLANCO-FILGUEIRA, B ; LOPEZ, P ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 73 (2012), S. 15-20
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    W-band differential power amplifier design in 45 nm low power CMOS
    DEFERM, Noël ; OSORIO, Juan F ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 82 (2013), S. 41-45
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Modeling and design of CMOS analog circuits through hierarchical abstraction
    DAM, Samiran ; MANDAL, Pradip
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 46 (2013), Heft 4, S. 449-462
    academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Process variation aware dual-Vth assignment technique for low power nanoscale CMOS design
    MANDE, Sudhakar S ; CHANDORKAR, Saurabh A ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 51 (2011), Heft 12, S. 2357-2365
    academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Multi-dimensional data registration CMOS/MEMS integrated inkjet printhead
    LIOU, Jian-Chiun ; TSENG, Fan-Gang
    In: Microelectronic engineering, Jg. 88 (2011), Heft 6, S. 888-901
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A new CMOS wideband low noise amplifier with gain control
    WANG, San-Fu ; HWANG, Yuh-Shyan ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 44 (2011), Heft 2, S. 136-143
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CMOS polycrystalline silicon circuits on steel substrates
    MING, WU ; WAGNER, Sigurd
    In: Proceedings of the 19th international conference on amorphous and microcrystalline semiconductors - science and technology (ICAMS 19), Nice, France, August 27-31, 2001. Part B, Jg. 299302 (2002), S. 1316-1320
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Single-pair bulk-driven CMOS input stage: A compact low-voltage analog cell for scaled technologies
    CARRILLO, Juan M ; TORELLI, Guido ; et al.
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 43 (2010), Heft 3, S. 251-257
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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