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    Crystallite misorientation analysis in semiconductor wafers and ELO samples by rocking curve imaging
    MIKULIK, P ; LÜBBERT, D ; et al.
    In: Proceedings of the E-MRS 2005 spring meeting symposium P: Current trends in optical and X-ray metrology of advanced materials for nanoscale devices, Strasbourg, France, May 31-June 3, Jg. 253 (2006), Heft 1, S. 188-193
    Konferenz
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    Laterally overgrown structures as substrates for lattice mismatched epitaxy
    ZYTKIEWICZ, Z. R
    In: Proceedings of the 4th Workshop on MBE and VPE Growth, Physics, Technology, Warsaw, Poland, 24-28 September 2001, Jg. 412 (2002), Heft 1-2, S. 64-75
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Surface characterization of epitaxial lateral overgrowth of InP on InP/GaAs substrate by MOCVD
    ZHOU, J ; REN, X. M ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 2, S. 255-258
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Retro-review of flow-injection analysis
    RUZICKA, Jaromir ; HANSEN, Elo Harald
    In: TrAC. Trends in analytical chemistry (Regular ed.), Jg. 27 (2008), Heft 5, S. 390-393
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Recent developments in automatic solid-phase extraction with renewable surfaces exploiting flow-based approaches
    MIRO, Manuel ; SUPAPORN KRADTAP, HARTWELL ; et al.
    In: TrAC. Trends in analytical chemistry (Regular ed.), Jg. 27 (2008), Heft 9, S. 749-761
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    How flow-injection analysis (FIA) over the past 25 years has changed our way of performing chemical analyses
    HANSEN, Elo Harald ; MIRO, Manuel
    In: TrAC. Trends in analytical chemistry (Regular ed.), Jg. 26 (2007), Heft 1, S. 18-26
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Solid reactors in sequential injection analysis : recent trends in the environmental field
    MIRO, Manuel ; HANSEN, Elo Harald
    In: TrAC. Trends in analytical chemistry (Regular ed.), Jg. 25 (2006), Heft 3, S. 267-281
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Trends and perspectives of flow injection/sequential injection on-line sample-pretreatment schemes coupled to ETAAS
    JIANHUA, WANG ; HANSEN, Elo Harald
    In: TrAC. Trends in analytical chemistry (Regular ed.), Jg. 24 (2005), Heft 1, S. 1-8
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Dynamic flow-through approaches for metal fractionation in environmentally relevant solid samples
    MIRO, Manuel ; HANSEN, Elo Harald ; et al.
    In: TrAC. Trends in analytical chemistry (Regular ed.), Jg. 24 (2005), Heft 8, S. 759-771
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    On-line sample-pre-treatment schemes for trace-level determinations of metals by coupling flow injection or sequential injection with ICP-MS
    JIANHUA, WANG ; HANSEN, Elo Harald
    In: TrAC. Trends in analytical chemistry (Regular ed.), Jg. 22 (2003), Heft 11, S. 836-846
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Interpretation of gravity anomalies along the POLAR Profile in the Northern Baltic Shield / Interprétation des anomalies de gravité le long du profil POLAR dans le Nord-Est du bouclier Baltique
    ELO, S ; LANNE, E ; et al.
    In: Tectonophysics, Jg. 167 (1989), Heft 1-2, S. 135-150
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Photon confinement in high-efficiency, thin-film III-V solar cells obtained by epitaxial lift-off
    SCHERMER, J. J ; BAUHUIS, G. J ; et al.
    In: Proceedings of Symposium F on Thin Film and Nanostructured Materials for Photovoltaics, EMRS 2005 Conference, Strasbourg, France, May 31-June 3, Jg. 511-12 (2006), S. 645-653
    Konferenz
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    Nanoheteroepitaxy of GaN on a nanopore array of Si(111) surface
    ZANG, K. Y ; WANG, Y. D ; et al.
    In: Proceedings of the Third International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT 2005) Symposium J: III-V Semiconductors for Microelectronic and Optoelectronic Applications, Singapore, July 3-8, Jg. 515 (2007), Heft 10, S. 4505-4508
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    FIB technology applied to the improvement of the crystal quality of GaN and to the fabrication of organised arrays of quantum dots
    GIERAK, J ; BOURHIS, E ; et al.
    In: Proceedings of the 29th Conference on Micro and Nano Engineering, September 22-25, 2003, Cambridge, United Kingdom, Jg. 73-74 (2004), S. 610-614
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Simulations of atmospheric pollution in Greater Lyon an example of the use of nested models
    SOULHAC, L ; PUEL, C ; et al.
    In: 11th International Symposium, Transport and Air Pollution, Graz, Austria, 19-21 June 2002, Jg. 37 (2003), Heft 37, S. 5147-5156
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    SeS2 assisted bonding of GaAs to Si : A new method for wafer bonding
    AROKIARAJ, J ; SOGA, T ; et al.
    In: Special Issue: Proceedings of the Third International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, ISCSI-3, Karuizawa, Japan, October 25-29, 1999, Jg. 159-60 (2000), S. 282-287
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Determination of fault-related sloughage in open stopes
    SUORINENI, F. T ; TANNANT, D. D ; et al.
    In: International journal of rock mechanics and mining sciences (1997), Jg. 36 (1999), Heft 7, S. 891-906
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Stacking fault reduction in Silicon-on-Insulator (SOI) islands produced by selective epitaxial growth (SEG) of silicon using a thermally nitrided SiO2 Field Insulator
    NEUDECK, G. W ; MERRITT, K. D ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 36 (1997), Heft 1-4, S. 391-394
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Studies by imaging ToF-SIMS of bone mineralization on porous titanium implants after 1 week in bone
    ERIKSSON, C ; BÖRNER, K ; et al.
    In: Proceedings of the Fifteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS XV, The University of Manchester, UK, September 12-16, 2005, Jg. 252 (2006), Heft 19, S. 6757-6760
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    EXAFS analysis of short-range rearrangement during transition from the amorphous to the crystalline phase in ferromagnetic metallic glass
    AUSANIO, G ; IANNOTTI, V ; et al.
    In: Proceedings of the Joint European Magnetic Symposia, JEMS'01. Part II, Jg. 242-45 (2002), S. 904-906
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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