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    Characterization of 4 K CMOS devices and circuits for hybrid Josephson-CMOS systems
    YOSHIKAWA, N ; TOMIDA, T ; et al.
    In: The 2004 Applied Superconductivity Conference, Jacksonville, FL, USA, October 3-8, Jg. 15 (2005), Heft 2, S. 267-271
    Online Konferenz
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    PVT variations aware low leakage INDEP approach for nanoscale CMOS circuits
    VIJAY KUMAR, SHARMA ; PATTANAIK, Manisha ; et al.
    In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 1, S. 90-99
    academicJournal
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    ISGP: Iterative sequential geometric programming for precise and robust CMOS analog circuit sizing
    KUNDU, Sudip ; MANDAL, Pradip
    In: Integration (Amsterdam), Jg. 47 (2014), Heft 4, S. 510-531
    academicJournal
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Chaotic Oscillations in a CMOS Inverter Coupled With ESD Protection Circuits Under Radio Wave Excitation
    MYUNGHWAN, PARK ; RODGERS, John C ; et al.
    In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility, Jg. 56 (2014), Heft 3, S. 530-538
    Online academicJournal
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    Volltext
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    A defect-based compact modeling approach for the reliability of CMOS devices and integrated circuits
    ESQUEDA, Ivan S ; BARNABY, Hugh J
    In: Solid-state electronics, Jg. 91 (2014), S. 81-86
    academicJournal
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    Low-voltage topologies for 40-Gb/s circuits in nanoscale CMOS
    CHALVATZIS, Theodoros ; YAU, Kenneth H. K ; et al.
    In: ESSCIRC 2006, Jg. 42 (2007), Heft 7, S. 1564-1573
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Fin-height controlled TiN-gate FinFET CMOS based on experimental mobility
    LIU, Y. X ; MATSUKAWA, T ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2101-2104
    Konferenz
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    Electrical detection of multiple resonant modes in a CMOS-MEMS cantilever
    URANGA, A ; VERD, J ; et al.
    In: Proceedings of the 32nd International Conference on Micro- and Nano-Engineering, Barcelona, 17-20 September 2006, Jg. 84 (2007), Heft 5-8, S. 1374-1378
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    CMOS smart sensor for monitoring the quality of perishables
    UENO, Ken ; HIROSE, Tetsuya ; et al.
    In: 2006 Symposium on VLSI circuits, Jg. 42 (2007), Heft 4, S. 798-803
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A passive UHF RF identification CMOS tag IC using ferroelectric RAM in 0.35-μm technology
    NAKAMOTO, Hiroyuki ; YAMAZAKI, Daisuke ; et al.
    In: Special issue on the 2006 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), Multimedia for a mobile world, February, Jg. 42 (2007), Heft 1, S. 101-110
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Vertical integrated-gate CMOS for ultra-dense IC
    YIJIAN, CHEN ; CHU, Albert
    In: Proceedings of the 31st International Conference on Micro- and Nano-Engineering: 19-22 September 2005, Vienna, Austria, Jg. 83 (2006), Heft 4-9, S. 1745-1748
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Ring oscillators for CMOS process tuning and variability control
    BHUSHAN, Manjul ; GATTIKER, Anne ; et al.
    In: IEEE transactions on semiconductor manufacturing, Jg. 19 (2006), Heft 1, S. 10-18
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    RF CMOS body-effect circuits
    THIERRY, Taris ; JEAN-BAPTISTE, Begueret ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1251-1260
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Pulse-width modulation pre-emphasis applied in a wireline transmitter, achieving 33 dB loss compensation at 5-Gb/s in 0.13-μm CMOS
    SCHRADER, Jan-Rutger ; KLUMPERINK, Eric A. M ; et al.
    In: 2005 Symposium on VLSI Circuits, Jg. 41 (2006), Heft 4, S. 990-999
    Online Konferenz
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    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Piezoresistive cantilevers in a commercial CMOS technology for intermolecular force detection
    VILLANUEVA, Guillermo ; PEREZ-MURANO, Francesc ; et al.
    In: Proceedings of the 31st International Conference on Micro- and Nano-Engineering: 19-22 September 2005, Vienna, Austria, Jg. 83 (2006), Heft 4-9, S. 1302-1305
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Integration issues of high-k and metal gate into conventional CMOS technology
    SONG, S. C ; ZHANG, Z ; et al.
    In: Proceedings of the International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT 2005) Symposium H: Silicon microelectronics: processing to packaging, Singapore, July 3-8, Jg. 504 (2006), Heft 1-2, S. 170-173
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Comparator-based switched-capacitor circuits for scaled CMOS technologies
    FIORENZA, John K ; SEPKE, Todd ; et al.
    In: 2006 IEEE International Solid-State Circuits Conference, Jg. 41 (2006), Heft 12, S. 2658-2668
    Online Konferenz
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    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    CMOS injection locked oscillators for quadrature generation at radio-frequency
    MAZZANTI, Andrea ; SVELTO, Francesco
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1241-1250
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A versatile 90-nm CMOS charge-pump PLL for SerDes transmitter clocking
    LOKE, Alvin L. S ; BARNES, Robert K ; et al.
    In: 2005 Custom Integrated Circuits Conference, Jg. 41 (2006), Heft 8, S. 1894-1907
    Online Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A test structure for contact and via failure analysis in deep-submicrometer CMOS technologies
    CABRINI, Alessandro ; CANTARELLI, Daniele ; et al.
    In: IEEE transactions on semiconductor manufacturing, Jg. 19 (2006), Heft 1, S. 57-66
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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