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    Silicon nanowires integrated with CMOS circuits for biosensing application
    JAYAKUMAR, G ; ASADOLLAHI, A ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 98 (2014), S. 26-31
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    MOSFET modeling for design of ultra-high performance infrared CMOS imagers working at cryogenic temperatures: Case of an analog/digital 0.18 μm CMOS process
    MARTIN, P ; ROYET, A. S ; et al.
    In: Solid-state electronics, Jg. 62 (2011), Heft 1, S. 115-122
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Integration of Si-CMOS embedded photo detector array and mixed signal processing system with embedded optical waveguide input
    KIM, Daeik D ; THOMAS, Mikkel ; et al.
    In: Semiconductor photodetectors (San Jose CA, 28-29 January 2004), 2004, S. 20-28
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Doubling speed using strained Si/SiGe CMOS technology
    OLSEN, Sarah H ; TEMPLE, Matthew ; et al.
    In: Proceedings of the Fourth International Conference on Silicon Epitaxy and Heterostructures (ICSI-4), Awaji Island, Hyogo, Japan, Jg. 508 (2006), Heft 1-2, S. 338-341
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Active Terahertz Imaging Using Schottky Diodes in CMOS: Array and 860-GHz Pixel
    HAN, Ruonan ; YAMING, ZHANG ; et al.
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 48 (2013), Heft 10, S. 2296-2308
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    SPICE-Based Performance Analysis of Trigate Silicon Nanowire CMOS Circuits
    TANAKA, Chika ; SAITOH, Masumi ; et al.
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 4, S. 1451-1456
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Performance Improvement of a 0.18-μm CMOS Microwave Amplifier Using Micromachined Suspended Inductors: Theory and Experiment
    WANG, To-Po ; LI, Zong-Wei ; et al.
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 5, S. 1738-1744
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A 24-GHz, +14.5-dBm fully integrated power amplifier in 0.18-μm CMOS
    KOMIJANI, Abbas ; NATARAJAN, Arun ; et al.
    In: IEEE 2004 Custom Integrated Circuits Conference (CICC 2004), Jg. 40 (2005), Heft 9, S. 1901-1908
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Fabrication and device characteristics of strained-Si-on-insulator (strained-SOI) CMOS
    TAKAGI, Shin-Ichi ; MIZUNO, Tomohisa ; et al.
    In: Proceedings of the First International SiGe Technology and Device Meeting (ISTDM 2003), From Materials and Process Technology to Device and Circuit Technology Nagoya University Symposion, Jg. 224 (2004), Heft 1-4, S. 241-247
    Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Integration of sputtered silicon microstructures with pre-fabricated CMOS circuitry
    HONER, Kenneth A ; KOVACS, Gregory T. A
    In: Selected papers from the Technical Digest of the 2000 Solid-State Sensors and Actuators Workshop, Hilton Head Island, SC, USA, 4-8 June, Jg. 91 (2001), Heft 3, S. 386-397
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Graphene Nanoribbon Spin Interconnects for Nonlocal Spin-Torque Circuits: Comparison of Performance and Energy Per Bit With CMOS Interconnects
    RAKHEJA, Shaloo ; NAEEMI, Azad
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 51-59
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    High-speed short wavelength silicon photodetectors fabricated in 130nm CMOS process
    CSUTAK, Sebastian M ; SCHAUB, Jeremy D ; et al.
    In: Photonics packaging and integration III (San Jose CA, 28-30 January 2003), 2003, S. 135-145
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Half-MOS Single-Poly EEPROM Cell in Standard CMOS Process
    TORRICELLI, Fabrizio ; MILANI, Luca ; et al.
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 6, S. 1892-1897
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Comparison between TCAD simulated and measured carrier lifetimes in CMOS photodiodes using the Open Circuit Voltage Decay method
    MARCELOT, O ; MAGNAN, P
    In: Solid-state electronics, Jg. 81 (2013), S. 135-139
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    CMOS X-Ray Detector With Column-Parallel 14.3-bit Extended-Counting ADCs
    SHIN, Min-Seok ; KIM, Jong-Boo ; et al.
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 3, S. 1169-1177
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Area-Dependent Photodetection Frequency Response Characterization of Silicon Avalanche Photodetectors Fabricated With Standard CMOS Technology
    LEE, Myung-Jae ; CHOI, Woo-Young
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 60 (2013), Heft 3, S. 998-1004
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Low-Cost Error Tolerance Scheme for 3-D CMOS Imagers
    CHANG, Hsiu-Ming ; HUANG, Jiun-Lang ; et al.
    In: IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, Jg. 21 (2013), Heft 3, S. 465-474
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Wafer Scale Integration of CMOS Chips for Biomedical Applications via Self-Aligned Masking
    UDDIN, Ashfaque ; MILANINIA, Kaveh ; et al.
    In: IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011. Print), Jg. 1 (2011), Heft 11-12, S. 1996-2004
    Online academicJournal
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    CMOS-Based High-Density Silicon Microprobe Arrays for Electronic Depth Control in Intracortical Neural Recording
    SEIDL, Karsten ; HERWIK, Stanislav ; et al.
    In: Journal of microelectromechanical systems, Jg. 20 (2011), Heft 6, S. 1439-1448
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    CMOS Silicon Physical Unclonable Functions Based on Intrinsic Process Variability
    STANZIONE, Stefano ; PUNTIN, Daniele ; et al.
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 46 (2011), Heft 6, S. 1456-1463
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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