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    Progress on Charge Distribution in Multiply-Stacked Si Quantum Dots/SiO2 Structure as Evaluated by AFM/KFM : Fundamentals and applications of advanced semiconductor devices
    MAKIHARA, Katsunori ; IKEDA, Mitsuhisa ; et al.
    In: IEICE transactions on electronics, Jg. 91 (2008), Heft 5, S. 712-715
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Morphology of MDMO-PPV:PCBM bulk hetero-junction organic solar cells studied by AFM, KFM and TEM
    MARTENS, T ; BEELEN, Z ; et al.
    In: Organic photovoltaics III (Seattle WA, 10-11 July 2002), 2003, S. 40-47
    Konferenz
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    Acid―Base Site Detection and Mapping on Solid Surfaces by Kelvin Force Microscopy (KFM)
    GOUVEIA, Rubia F ; BERNARDES, Juliana S ; et al.
    In: Analytical chemistry (Washington), Jg. 84 (2012), Heft 23, S. 10191-10198
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A new ESC base component: the KFM compact bay module
    RAFFEINER, E
    In: Revue Sprecher Energie, 1993, Heft 1, S. 20-22
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Motion retrieval based on Switching Kalman Filters Model
    QINKUN, XIAO ; YICHUANG, LUO ; et al.
    In: Multimedia tools and applications, Jg. 72 (2014), Heft 1, S. 951-966
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    X-ray absorption microspectroscopy using Kelvin force microscopy with an X-ray source
    ISMI, M ; RIGOPOULOS, N ; et al.
    In: Proceedings of the 23rd international conference on defects in semiconductors, ICDS-23, Awaji Island, Japan, 27-29 July 2005, Jg. 376-77 (2006), S. 950-954
    Konferenz
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    Surface potential of ferroelectric domain investigated by Kelvin force microscopy
    KIM, Yunseok ; HONG, Seungbum ; et al.
    In: ICE-2005 International conference on electroceramics, Jg. 17 (2006), Heft 2-4, S. 185-188
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Diffusion of Li in the silicon oxide films and evaluation of Li-induced surface potential
    MAEDA, Masahiko ; WATANABE, Teruyoshi ; et al.
    In: ICSFS-12: 12th International Conference on Solid Films and Surfaces, Hamamatsu, Japan, 21-25 June 2004, Jg. 244 (2005), Heft 1-4, S. 61-64
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    SKFM observation of SCC on SUS304 stainless steel
    MASUDA, Hiroyuki
    In: Progress in corrosion research in commemoration of Centenary of birth of Professor Go Okamoto, Jg. 49 (2007), Heft 1, S. 120-129
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    The knot factor method and its applications in blade measurement
    YE, PEIQING ; ZHANG, HUI ; et al.
    In: Aerospace science and technology, Jg. 10 (2006), Heft 5, S. 359-363
    academicJournal
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    Investigation of Charge Loss Mechanism of Thickness-Scalable Trapping Layer by Variable Temperature Kelvin Probe Force Microscopy
    YULONG, HAN ; ZONGLIANG, HUO ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 7, S. 870-872
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Determination of the morphology of surface groups formed and PVDF-binder materials dispersed on graphite composite electrodes in terms of fractal geometry
    LEE, Seung-Bok ; PYUN, Su-Il
    In: Journal of electroanalytical chemistry (1992), Jg. 556 (2003), S. 75-82
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Interfacial state and potential barrier height associated with grain boundaries in polycrystalline silicon
    TSUREKAWA, Sadahiro ; KIDO, Kota ; et al.
    In: International Symposium on Physics of Materials 10, 2005, Jg. 462 (2007), Heft 1-2, S. 61-67
    Konferenz
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    Chemical modifications and stability of diamond nanoparticles resolved by infrared spectroscopy and Kelvin force microscopy
    KOZAK, H ; REMES, Z ; et al.
    In: Journal of nanoparticle research, Jg. 15 (2013), Heft 4
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Domain and surface structuring of LiNbO3 single crystal by scanning force microscopy
    TERABE, K ; LIU, X. Y ; et al.
    In: The International Symposium on Micro- and Nano-Scale Domain Structuring in Ferroelectrics (ISDS '05). Part I of II, Jg. 340 (2006), S. 121-128
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Time transient investigation of photo-induced electron localization at atomic step edges of Si (1 1 1)
    ISHII, Masashi ; HAMILTON, Bruce
    In: 4th International Conference on Photo-Excited Processes and Applications (4-ICPEPA), Jg. 248 (2005), Heft 1-4, S. 14-18
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    The electrical potential difference across cracks in PZT measured by Kelvin Probe Microscopy and the implications for fracture
    SCHNEIDER, G. A ; FELTEN, F ; et al.
    In: Acta materialia, Jg. 51 (2003), Heft 8, S. 2235-2241
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Effect of surface roughness and surface modification of indium tin oxide electrode on its potential response to tryptophan
    ZAVED HOSSAIN KHAN, Md ; NAKANISHI, Takuya ; et al.
    In: Electrochimica acta, Jg. 56 (2011), Heft 24, S. 8657-8661
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Innovationswettbewerbe: Ein IT-gestütztes Instrument des Innovationsmanagements
    HALLER, Dipl. -Kfm jörg B. A ; BULLINGER, Angelika C ; et al.
    In: Wirtschaftsinformatik, Jg. 53 (2011), Heft 2, S. 105-108
    academicJournal
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    How to Control AFM Nanoxerography for the Templated Monolayered Assembly of 2 nm Colloidal Gold Nanoparticles
    RESSIER, Laurence ; PALLEAU, Etienne ; et al.
    In: IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 8 (2009), Heft 4, S. 487-491
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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