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In: Proceedings of Symposium M on Optical and X-Ray Metrology for Advanced Device Materials Characterization, Jg. 450 (2004), Heft 1, S. 75-78KonferenzZugriff:
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In: E-MRS Spring Conference, Symposium D: Thin Films Epitaxial Growth and Nanostructures, Jg. 336 (1998), Heft 1-2, S. 256-261KonferenzZugriff:
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In: Thin solid films, Jg. 479 (2005), Heft 1-2, S. 113-120academicJournalZugriff: