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    Microchip lasers for the LMJ front end
    Kramer, Philippe ; Rabarot, Marc ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1999-07-23
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Fiber-coupled microchip lasers for the LMJ
    Rabarot, Marc ; Molva, Engin ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 1997-12-08
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Optical metrology devices for high-power laser large optics
    Poncetta, Jean-Christophe ; Gaborit, Gael ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2007-06-18
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Metrology of large optical components for high power lasers
    Daurios, Jérôme ; Gaborit, Gael ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2003-11-18
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Technological processing of silica as seen through laser-induced damage tests
    Garrec, Pierre ; Kaladgew, Sophie ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2002-03-28
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Multiscale analysis: a way to investigate laser damage precursors in materials for high power applications at nanosecond pulse duration
    Natoli, Jean-Yves ; Capoulade, Jérémie ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2010-10-13
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Absolute interferometric measurement of flatness: application of different methods to test a 600 mm diameter reference flat
    Bouillet, Stéphane ; Morin, Franck
    In: SPIE Proceedings, 2007-06-18
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Integrated facility of UV and IR laser process to enhance laser damage resistance of large scale 3w optics
    Lamaignère, Laurent ; Bouchut, Philippe ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2005-02-21
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Building high-damage-threshold surfaces at 351 nm
    Daurios, Nathalie ; Bigarre, Janick ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2004-02-26
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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