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  1. JEON, Woochul ; MELNGAILIS, John
    In: ISDRS 2005, Jg. 50 (2006), Heft 6, S. 951-958
    Konferenz
  2. VILLANUEVA, Guillermo ; PEREZ-MURANO, Francesc ; et al.
    In: Proceedings of the 31st International Conference on Micro- and Nano-Engineering: 19-22 September 2005, Vienna, Austria, Jg. 83 (2006), Heft 4-9, S. 1302-1305
    Konferenz
  3. CARRERE, J.-P ; GARNIER, P ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2109-2112
    Konferenz
  4. HARMS, K. U ; HORSTMANN, J. T
    In: Proceedings of the 29th Conference on Micro and Nano Engineering, September 22-25, 2003, Cambridge, United Kingdom, Jg. 73-74 (2004), S. 468-473
    Konferenz
  5. HONER, Kenneth A ; KOVACS, Gregory T. A
    In: Selected papers from the Technical Digest of the 2000 Solid-State Sensors and Actuators Workshop, Hilton Head Island, SC, USA, 4-8 June, Jg. 91 (2001), Heft 3, S. 386-397
    Konferenz
  6. TAPAJNA, M ; HUSEKOVA, K ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2412-2416
    Konferenz
  7. RASMUSSEN, F. E ; HESCHEL, M ; et al.
    In: Proceedings of the 28th International Conference on Micro- and Nano-Engineering, September 16-19, 2002, Lugano, Switzerland, Jg. 67-68 (2003), S. 487-494
    Konferenz
  8. WEBER, J ; NEBRICH, L ; et al.
    In: Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, 6-9 March 2005, Dresden, Germany, Jg. 82 (2005), Heft 3-4, S. 215-220
    Konferenz
  9. CRISTEA, Dana ; CRACIUNOIU, F ; et al.
    In: Optoelectronics I: Materials and Technologies for Optoelectronic Devices, Jg. 17 (2001), Heft 1-2, S. 201-205
    Konferenz
  10. FERRI, G ; DE LAURENTIIS, P ; et al.
    In: Selected papers from Eurosensors XIV, Copenhagen, Denmark, 27-30 August 2000, Jg. 92 (2001), Heft 1-3, S. 263-272
    Konferenz
  11. LEI, GU ; XINXIN, LI
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 4, S. 697-703
    academicJournal
  12. BINTORO, Jemmy S ; HESKETH, Peter J ; et al.
    In: European Micro and Nano Systems, Jg. 36 (2005), Heft 7, S. 667-672
    Konferenz
  13. ECOFFEY, S ; POTT, V ; et al.
    In: Micro and Nano Engineering 2004: Proceedings of the 30th International Conference on Micro and Nano Engineering, September 19-22, Jg. 78-79 (2005), S. 239-243
    Konferenz
  14. DAI, Ching-Liang ; KAO, Pin-Hsu ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 39 (2008), Heft 5, S. 744-749
    academicJournal
  15. DAI, Ching-Liang
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2543-2550
    academicJournal
  16. CONTOPANAGOS, H ; NASSIOPOULOU, A. G
    In: Solid-state electronics, Jg. 50 (2006), Heft 7-8, S. 1283-1290
    academicJournal
  17. KAL, S ; DAS, S ; et al.
    In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 1, S. 22-30
    academicJournal
  18. PEREZ-TOMAS, A ; JORDA, X ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 77 (2005), Heft 2, S. 158-167
    academicJournal
  19. MÜLLER, T ; BRANDL, M ; et al.
    In: Sensors and actuators. A, Physical, Jg. 84 (2000), Heft 1-2, S. 126-133
    Online academicJournal
  20. BENOIT, D ; REGOLINI, J ; et al.
    In: INFOS 2007: Proceedings of the 15th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors, June 20-23, Jg. 84 (2007), Heft 9-10, S. 2169-2172
    Konferenz
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