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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Enhanced total ionizing dose tolerance of bulk CMOS transistors fabricated for ultra-low power applications
    Jackson, E
    1999
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Overcoming scaling concerns in a radiation-hardening CMOS technology
    Haddad, N
    1999
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Comparison of total dose responses on high resolution analog-to-digital converter technologies
    Johnston, A [California Inst. of Tech., Pasadena, CA (United States). Jet Propulsion Lab.]
    1998
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Multi-MGy Radiation Hardened Camera for Nuclear Facilities
    Raine, Melanie [CEA, DAM, DIF, F-91297 Arpajon (France)]
    2015
    Online Konferenz
    Zugriff:
    View record in SciTech Connect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -