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    Bug Report Classification by Selecting Relevant Features Using Chi Square, Information Gain and Latent Semantic Analysis
    Kumar, Sushil ; Singh, V.B ; et al.
    In: 2021 9th International Conference on Reliability, Infocom Technologies and Optimization (Trends and Future Directions) (ICRITO), 2021-09-03, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Deep Learning Based Valid Bug Reports Determination and Explanation
    He, Jianjun ; Xu, Ling ; et al.
    In: 2020 IEEE 31st International Symposium on Software Reliability Engineering (ISSRE), 2020-10-01, S. 184-194
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    SiameseQAT: A Semantic Context-Based Duplicate Bug Report Detection Using Replicated Cluster Information
    Rocha, T.M. ; Carvalho, A.L.D.C.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 44610-44630
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Deep Learning With Customized Abstract Syntax Tree for Bug Localization
    Liang, H. ; Sun, L. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 116309-116320
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Convolutional Neural Networks-Based Locating Relevant Buggy Code Files for Bug Reports Affected by Data Imbalance
    Liu, G. ; Lu, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 131304-131316
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    BiN: A Two-Level Learning-Based Bug Search for Cross-Architecture Binary
    Wu, H. ; Shu, H. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 169548-169564
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Automatic Component Prediction for Issue Reports Using Fine-Tuned Pretrained Language Models
    Wang, D. ; Lee, C.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 131456-131468
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Convolutional Neural Network Based Classification of App Reviews
    Aslam, N. ; Ramay, W.Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 185619-185628
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Software Vulnerability Detection Using Deep Neural Networks: A Survey
    Lin, G. ; Wen, S. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 108 (2020-10-01), Heft 10, S. 1825-1848
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Feature Extraction Methods for Binary Code Similarity Detection Using Neural Machine Translation Models
    Ito, N. ; Hashimoto, M. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 102796-102805
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Semantic Feature Learning via Dual Sequences for Defect Prediction
    Lin, J. ; Lu, L.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 13112-13124
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    CCDLC Detection Framework-Combining Clustering with Deep Learning Classification for Semantic Clones
    Sheneamer, Abdullah
    In: 2018 17th IEEE International Conference on Machine Learning and Applications (ICMLA), 2018-12-01, S. 701-706
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Seml: A Semantic LSTM Model for Software Defect Prediction
    Liang, H. ; Yu, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 7 (2019), S. 83812-83824
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Clustering Commits for Understanding the Intents of Implementation
    Yamauchi, Kenji ; Yang, Jiachen ; et al.
    In: 2014 IEEE International Conference on Software Maintenance and Evolution, 2014-09-01, S. 406-410
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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