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    An artificial dead-layer to protect the ferroelectric thin films from electron injection.
    Chen, Xiaoyang ; Zhang, Jie ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 134 (2023-07-28), Heft 4, S. 1-10
    Online academicJournal
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    Modulating multiple leakage current mechanisms in the [LaNiO<subscript>3</subscript>/Ba<subscript>0.67</subscript>Sr<subscript>0.33</subscript>TiO<subscript>3</subscript>]<subscript>3</subscript> multilayer heterostructure thin films via dielectrics/electrode interface modifications.
    Yu, Tong ; Liu, Yun ; et al.
    In: AIP Advances, Jg. 12 (2022-12-01), Heft 12, S. 1-8
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Effect of bottom electrodes on nanoscale switching characteristics and piezoelectric response in polycrystalline BiFeO3 thin films.
    Yan, F. ; Zhu, T. J. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 110 (2011-10-15), Heft 8, S. 84102-84107
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Structural and dielectric properties of ferroelectric poly(vinylidene fluoride-trifluoroethylene) thin films with different bottom electrodes.
    Liu, P. F. ; Gemeiner, P. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 106 (2009-09-01), Heft 5, S. 54111-1- (4S.)
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Leakage current behavior of SrBi2Ta2O9 ferroelectric thin films on different bottom electrodes.
    Das, Rasmi R. ; Bhattacharya, P. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 92 (2002-11-15), Heft 10, S. 6160-6164
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Combined effect of thickness and stress on ferroelectric behavior of thin BaTiO[sub 3] films.
    Huang, G F. ; Berger, S.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 93 (2003-03-01), Heft 5, S. 2855-2860
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    Enhanced dielectric properties of Pb0.92La0.08 Zr0.52Ti0.48O3 films with compressive stress.
    Ma, Beihai ; Liu, Shanshan ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 112 (2012-12-01), Heft 11, S. 114117-114117
    Online academicJournal
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Epitaxial growth and surface metallic nature of LaNiO<subscript>3</subscript> thin films.
    Tsubouchi, K. ; Ohkubo, I. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 92 (2008-06-30), Heft 26, S. 262109-262111
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Nanoscale investigation of domain retention in preferentially oriented PbZr0.53Ti0.47O3 thin films on Pt and on LaNiO3.
    Hong, J. W. ; Jo, W. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 75 (1999-11-15), Heft 20, S. 3183-3185
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Improved ferroelectric property of LaNiO<subscript>3</subscript>/Pb(Zr<subscript>0.2</subscript>Ti<subscript>0.8</subscript>)O<subscript>3</subscript>/LaNiO<subscript>3</subscript> capacitors prepared by chemical solution deposition on platinized silicon.
    Han, H. ; Zhong, J. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 88 (2006-02-27), Heft 9, S. 92902-92904
    Online academicJournal
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Electronic properties of nanocrystalline LaNiO3 and La0.5Sr0.5CoO3 conductive films grown on silicon substrates determined by infrared to ultraviolet reflectance spectra.
    Hu, Z. G. ; Li, W. W. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 94 (2009-06-01), Heft 22, S. 221104-221104
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Epitaxial growth and surface metallic nature of LaNiO3 thin films.
    Tsubouchi, K. ; Ohkubo, I. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 92 (2008-06-30), Heft 26, S. 262109-262109
    Online academicJournal
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    Effect of conductive LaNiO3 electrode on the structural and ferroelectric properties of Bi3.25La0.75Ti3O12 films.
    Jain, M. ; Kang, B. S. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 89 (2006-12-11), Heft 24, S. 242903-242903
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Low-temperature growth and interface characterization of BiFeO3 thin films with reduced leakage current.
    Lee, Yi-Hsien ; Wu, Jenn-Ming ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 87 (2005-10-24), Heft 17, S. 172901-172901
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Low-temperature preparation and characterization of SrBi[sub 2]Ta[sub 2]O[sub 9] thin films on (100)-oriented LaNiO[sub 3] electrodes.
    Hu, G. D. ; Hu, G.D. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 76 (2000-03-27), Heft 13
    Online academicJournal
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    Low-temperature growth and interface characterization of BiFeO3 thin films with reduced leakage current
    Lee, Yi-Hsien ; Wu, Jenn-Ming ; et al.
    2005
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Improved ferroelectric property of LaNiO3/Pb(Zr0.2Ti0.8)O3/LaNiO3 capacitors prepared by chemical solution deposition on platinized silicon.
    Han, H. ; Zhong, J. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 88 (2006-02-27), Heft 9, S. 092902-92902
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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