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    Etude statistique et modélisation de la dégradation NBTI pour les technologies CMOS FDSOI et BULK.
    Nouguier, Damien
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Monitoring of temperature effects on CMOS memories
    Farjallah, Emna
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Etude de la fiabilité de type negative bias temperature instability (NBTI) et par porteurs chauds (HC) dans les filières CMOS 28nm et 14nm FDSOI
    Ndiaye, Cheikh
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Prévision des effets de vieillissement par électromigration dans les circuits intégrés CMOS en noeuds technologiques submicroniques.
    Ouattara, Boukary
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Fiabilité des diélectriques low-k SiOCH poreux dans les interconnexions CMOS avancées
    Chery, Emmanuel
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Développement des technologies mémoires 'back-end' résistives à base d'oxydes pour application dans des 'Systems on Chip' avancés.
    Diokh, Thérèse
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits
    Karatsori, Theano
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Fiabilité des technologies CMOS fortement sub-microniques pour les applications avioniques et aérospatiales
    Moliere, Florian
    2011
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Etude de la fiabilité des technologies CMOS avancées, depuis la création des défauts jusqu'à la dégradation des transistors
    Mamy Randriamihaja, Yoann
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Conception et exploitation d'un banc d'auto-caractérisation pour la prévision de la fiabilité des circuits numériques programmables
    Naouss, Mohammad
    2016
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Méthodes de tests et de diagnostics appliquées aux mémoires non-volatiles
    Plantier, Jérémy
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Conception et simulation des circuits numériques en 28nm FDSOI pour la haute fiabilité
    Sivadasan, Ajith
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Approche logicielle pour améliorer la fiabilité d'applications parallèles implémentées dans des processeurs multi-cœur et many-cœur
    Vargas Vallejo, Vanessa Carolina
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Evaluation de la sensibilité face aux SEE et méthodologie pour la prédiction de taux d'erreurs d'applications implémentées dans des processeurs Multi-cœur et Many-cœur
    Ramos Vargas, Pablo Francisco
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Fiabilité des transistors MOS des technologies à mémoires non volatiles embarquées
    Carmona, Marion
    2015
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Etude et optimisation des performances électriques et de la fiabilité de mémoires résistives à pont conducteur à base de chalcogénure/Ag ou d'oxyde métallique/Cu
    Longnos, Florian
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Architectures d'opérateurs numérique auto-contrôlables
    An, Ting
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Characterization and modeling of advanced charge trapping non volatile memories.
    Della marca, Vincenzo
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Etude des fluctuations locales des transistors MOS destinés aux applications analogiques
    Joly, Yohan
    2011
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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