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  1. Hung, Terry Y.T. ; Li, Meng-Zhan ; et al.
    In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022-12-03, S. 1
    Konferenz
  2. Dutt, A. ; Matsumoto, Y. ; et al.
    In: 2015 12th International Conference on Electrical Engineering, Computing Science and Automatic Control (CCE), 2015-10-01, S. 1-6
    Konferenz
  3. Buijnsters, J.G. ; Carabineiro, S.A.C. ; et al.
    In: 2015 1st Workshop on Nanotechnology in Instrumentation and Measurement (NANOFIM), 2015-07-01, S. 163-167
    Konferenz
  4. Rahim, M.S. ; Sahdan, M.Z. ; et al.
    In: 2016 World Symposium on Computer Applications & Research (WSCAR), 2016-03-01, S. 126-129
    Konferenz
  5. Jia, Hao ; Yang, Rui ; et al.
    In: 2016 IEEE International Frequency Control Symposium (IFCS), 2016-05-01, S. 1-3
    Konferenz
  6. Zhenghong, Zhu ; Zhengwang, Qian
    In: 2011 International Conference on Consumer Electronics, Communications and Networks (CECNet), 2011-04-01, S. 289-292
    Konferenz
  7. Yue, Weiwei ; Jiang, Shouzhen ; et al.
    In: Proceedings 2013 International Conference on Mechatronic Sciences, Electric Engineering and Computer (MEC), 2013-12-01, S. 711-714
    Konferenz
  8. Ishak, A. ; Rusop, M.
    In: 2013 International Conference on Electrical, Electronics and System Engineering (ICEESE), 2013-12-01, S. 1-6
    Konferenz
  9. Matsumoto, Y. ; Ortega, M. ; et al.
    In: 2010 7th International Conference on Electrical Engineering Computing Science and Automatic Control, 2010-09-01, S. 608-612
    Konferenz
  10. Girard, Jean-Marc
    In: 2017 IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM), 2017-02-01, S. 59-60
    Konferenz
  11. Wang, W.R. ; Zhou, Y.X. ; et al.
    In: 2011 16th International Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems Conference, 2011-06-01, S. 1602-1605
    Konferenz
  12. Ali, May ; Abdul-Rashid, Suraya ; et al.
    In: 2016 International Conference on Advances in Electrical, Electronic and Systems Engineering (ICAEES), 2016-11-01, S. 293-296
    Konferenz
  13. Thodkar, K. ; Nef, C. ; et al.
    In: 29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), 2014-08-01, S. 540-541
    Konferenz
  14. Ko, C.H. ; Kuan, T.M. ; et al.
    In: 2008 Symposium on VLSI Technology, 2008-06-01, S. 108
    Konferenz
  15. Yatabe, Zenji ; Nakamura, Yusui ; et al.
    In: 2022 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK), 2022-11-28, S. 1-3
    Konferenz
  16. Ferlito, E. P. ; Pizzo, G. ; et al.
    In: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013-04-01, S. 1
    Konferenz
  17. Huang, Runhui ; Zhong, Xing-Fu ; et al.
    In: 2021 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2021-03-14, S. 1-6
    Konferenz
  18. Motoyama, Tomohiro ; Yatabe, Zenji ; et al.
    In: 2021 IEEE International Meeting for Future Electron Devices, Kansai (IMFEDK), 2021-11-17, S. 1-2
    Konferenz
  19. Lysenko, Nikita I. ; Mutilin, Sergey V. ; et al.
    In: 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials (EDM), 2021-06-30, S. 79-82
    Konferenz
  20. Villarreal, Daniel ; Wittel, Frederick P. ; et al.
    In: 2019 7th International Engineering, Sciences and Technology Conference (IESTEC), 2019-10-01, S. 78-84
    Konferenz
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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