Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- finfets 143 Treffer
- logic gates 130 Treffer
- complementary metal oxide semiconductors 97 Treffer
- cmos 79 Treffer
- field-effect transistors 79 Treffer
-
45 weitere Werte:
- logic circuits 61 Treffer
- transistors 59 Treffer
- silicon 55 Treffer
- metal oxide semiconductor field-effect transistors 46 Treffer
- performance evaluation 42 Treffer
- dielectrics 41 Treffer
- cmos technology 37 Treffer
- resistance 37 Treffer
- threshold voltage 37 Treffer
- mosfet 36 Treffer
- metals 35 Treffer
- cmos integrated circuits 31 Treffer
- semiconductors 30 Treffer
- variability 30 Treffer
- germanium 28 Treffer
- nanowires 25 Treffer
- random access memory 25 Treffer
- strain 23 Treffer
- technology 22 Treffer
- mobility 21 Treffer
- silicon-on-insulator (soi) 20 Treffer
- gallium arsenide 19 Treffer
- semiconductor process modeling 19 Treffer
- sram 19 Treffer
- capacitance 18 Treffer
- electric capacity 18 Treffer
- parasitic capacitance 18 Treffer
- resistive random access memory (rram) 18 Treffer
- computer simulation 17 Treffer
- digital electronics 17 Treffer
- nanowire 17 Treffer
- standards 16 Treffer
- stress 16 Treffer
- nanowire (nw) 15 Treffer
- substrates 15 Treffer
- mosfets 14 Treffer
- reliability 14 Treffer
- simulation methods & models 14 Treffer
- ingaas 13 Treffer
- performance 13 Treffer
- correlation 12 Treffer
- electrostatics 12 Treffer
- integrated circuit modeling 12 Treffer
- leakage current 12 Treffer
- nanoelectromechanical systems 12 Treffer
Verlag
Sprache
350 Treffer
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4175-4182Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-11-01), Heft 11, S. 4273-4278Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), Heft 12, S. 5355-5361Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-07-01), Heft 7, S. 2657-2664Online academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-05-01), Heft 5, S. 1222-1230Online academicJournalZugriff: