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    A Study of LDE on Stdcell Device Performance in Advance FinFET Technology
    Gu, Yu-Zhu ; Lu, Hai-Sheng ; et al.
    In: 2018 14th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2018-10-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Test structures for debugging variation of critical devices caused by layout-dependent effects in FinFETs
    Lin, Qi ; Pan, Hans ; et al.
    In: 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), 2018-03-01, S. 3-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Effect of Gate-Line-End-Induced Stress and Its Impact on Device’s Characteristics in FinFETs
    Yang, P.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-07-01), Heft 7, S. 910-910
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Impact Study of Layout-Dependent Effects Toward FinFET Combinational Standard Cell Optimization
    Xu, H. ; Wang, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-02-01), Heft 2, S. 731-735
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Compact modeling solution of layout dependent effect for FinFET technology
    Chen, D.C. ; Lin, G.S. ; et al.
    In: Proceedings of the 2015 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2015-03-01, S. 110-115
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Characterization FinFET device layout dependent effect
    Xie, Xinyun ; Ju, Jianhua
    In: 2016 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2016-03-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Layout-induced stress effects in 14nm & 10nm FinFETs and their impact on performance
    Bardon, M. Garcia ; Moroz, V. ; et al.
    In: 2013 Symposium on VLSI Technology, 2013-06-01, S. 2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Layout-induced stress effects in 14nm & 10nm FinFETs and their impact on performance
    Bardon, M. Garcia ; Moroz, V. ; et al.
    In: 2013 Symposium on VLSI Circuits, 2013-06-01, S. 2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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