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  1. Goyal, Saurabh ; Wadhwa, Sanjay Kumar ; et al.
    In: 2023 36th International Conference on VLSI Design and 2023 22nd International Conference on Embedded Systems (VLSID), 2023, S. 98-103
    Konferenz
  2. Abdelaziz, Lazzaz ; Khaled, Bousbahi ; et al.
    In: 2023 13th International Symposium on Advanced Topics in Electrical Engineering (ATEE), 2023-03-23, S. 1-5
    Konferenz
  3. Sehgal, H.D. ; Pratap, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 23 (2023-06-01), Heft 2, S. 249-256
    Online academicJournal
  4. Ke, Jhih-Ying ; Santos Tolentino, Lean Karlo ; et al.
    In: 2023 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 2023-11-19, S. 271-275
    Konferenz
  5. Hsieh, C. ; Hong, T. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-11-01), Heft 11, S. 1798-1801
    Online academicJournal
  6. Sreenivasulu, V.B. ; Narendar, V.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-08-01), Heft 8, S. 4115-4122
    Online academicJournal
  7. Veloso, A. ; Eneman, G. ; et al.
    In: 2023 21st International Workshop on Junction Technology (IWJT), 2023-06-08, S. 1-5
    Konferenz
  8. Ruan, D. ; Chang-Liao, K. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-06-01), Heft 6, S. 838-841
    Online academicJournal
  9. Gupta, S. ; Singh, S.K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-04-01), Heft 4, S. 1815-1822
    Online academicJournal
  10. Das, U.K. ; Hussain, M.M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3643-3648
    Online academicJournal
  11. Kwon, Minho ; Lim, Seunghyun ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2020-10-01, S. 1-4
    Konferenz
  12. Baig, M.A. ; Yeh, C. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 11 (2023), S. 107-113
    Online academicJournal
  13. Young, L. B. ; Lin, Y. H. G. ; et al.
    In: 2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2022-10-25, S. 1-4
    Konferenz
  14. Chang, Chih-Hao ; Chang, V.S. ; et al.
    In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022-12-03, S. 1
    Konferenz
  15. Sell, B. ; An, S. ; et al.
    In: 2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022-06-12, S. 282-283
    Konferenz
  16. Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  17. Cheng, K. ; Park, C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), Heft 12, S. 5355-5361
    Online academicJournal
  18. Sharma, Yash ; Singh, Anushka ; et al.
    In: 2019 International Conference on Signal Processing and Communication (ICSC), 2019-03-01, S. 275-278
    Konferenz
  19. Jha, C.K. ; Yogi, P. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1184-1192
    Online academicJournal
  20. Hesham, Bakr ; Hasaneen, El-Sayed ; et al.
    In: 2018 International Japan-Africa Conference on Electronics, Communications and Computations (JAC-ECC), 2018-12-01, S. 61-64
    Konferenz
xs 0 - 576
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md 768 - 992
lg 992 - 1200
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