Achtung:
Auf dieses Seite bzw. Funktion können Sie nur zugreifen, wenn Sie sich im Campusnetz befinden oder angemeldet haben.
Suchergebnisse
UB Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Gefunden in
Art der Quelle
Schlagwort
- latches 25 Treffer
- single event effects 25 Treffer
- flip-flop 24 Treffer
- flip-flops 24 Treffer
- complementary metal oxide semiconductors 20 Treffer
-
45 weitere Werte:
- radiation hardening (electronics) 15 Treffer
- heavy ions 13 Treffer
- clocks 10 Treffer
- logic circuits 10 Treffer
- soft errors 10 Treffer
- cmos integrated circuits 9 Treffer
- radiation 9 Treffer
- single event upset 9 Treffer
- transistors 9 Treffer
- radiation effects 8 Treffer
- circuit faults 5 Treffer
- cross-section 5 Treffer
- delays 5 Treffer
- effect of radiation on electronic apparatus & appliances 5 Treffer
- electric potential 5 Treffer
- error correction codes 5 Treffer
- field-effect transistors 5 Treffer
- finfet 5 Treffer
- finfets 5 Treffer
- inverters 5 Treffer
- logic gates 5 Treffer
- low power 5 Treffer
- low voltage 5 Treffer
- metal oxide semiconductors 5 Treffer
- microelectronics 5 Treffer
- radiation hardening 5 Treffer
- radiation hardening by design 5 Treffer
- set 5 Treffer
- seu 5 Treffer
- silicon-on-insulator 5 Treffer
- simulation methods & models 5 Treffer
- single event effect 5 Treffer
- single event transient (set) 5 Treffer
- single event upset (seu) 5 Treffer
- single-event upset 5 Treffer
- soft error 5 Treffer
- temperature sensors 5 Treffer
- transient analysis 5 Treffer
- architecture 4 Treffer
- coding theory 4 Treffer
- complementary metal-oxide-semiconductor (cmos) 4 Treffer
- computer architecture 4 Treffer
- design 4 Treffer
- fdsoi 4 Treffer
- radiation damage 4 Treffer
Sprache
7 Treffer
-
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 62 (2015-08-15), Heft 4b, S. 1888-1897Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 64 (2017), Heft 1, part 1, S. 477-482Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), Heft 6, S. 4381-4386Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-08-01), Heft 8, S. 1776-1782Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-12-01), Heft 6, S. 4374-4380Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-12-01), Heft 6, S. 3003-3009Online academicJournalZugriff:
-
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 63 (2016-12-01), Heft 6, S. 2934-2940Online academicJournalZugriff: