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    Comparison of lrl(m), trm, trrm and tar, calibration techniques using the straightforward de-embedding method
    Reynoso-Hernandez, J.A. ; Inzunza-Gonzalez, E.
    In: 59th ARFTG Conference Digest, Spring, 2002, S. 93-98
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Accuracy study on the newly introduced Anritsu W1-connector calibration and verification kit
    Lee, Yeou-Song ; Roberts, T.
    In: Conference, 2003. Fall 2003. 62nd ARFTG Microwave Measurements, 2003, S. 109-118
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Microwave non-destructive testing of semiconductor wafers in the frequency range 8-12.5 GHz
    Muhamad, F. ; Baba, N.H. ; et al.
    In: ICONIP '02. Proceedings of the 9th International Conference on Neural Information Processing. Computational Intelligence for the E-Age (IEEE Cat. No.02EX575), Semiconductor Electronics, 2002. Proceedings. ICSE 2002. IEEE, 2002, S. 561-565
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Straightforward De-Embedding Method for Devices Embedded in Test Fixtures
    Reynoso-Hernandez, J. A. ; Inzunza-Gonzalez, Everardo
    In: 57th ARFTG Conference Digest, Jg. 39 (2001-05-01), S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A millimeter dual six-port network analyzer in the W frequency band (75 -110 GHz)
    Chahine, S. Abou ; Huyart, B. ; et al.
    In: 1993 23rd European Microwave Conference, 1993-09-01, S. 299
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Development of Calibration and Verification Standards in Microstrip to 60 GHz
    Oldfield, William
    In: 34th ARFTG Conference Digest, Jg. 16 (1989-11-01), S. 26
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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