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    Pin-Gap Correction of Coaxial Calibration Standards for TRL or LRL Calibration
    Koo, H. ; Cho, C. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 10 (2022), S. 34779-34788
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Lean Readiness Assessment in Sugar Production Plant
    Sundharesalingam, P. ; Mohanasundari, M. ; et al.
    In: 2023 International Conference on Computer Communication and Informatics (ICCCI), 2023-01-23, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Learning Better Registration to Learn Better Few-Shot Medical Image Segmentation: Authenticity, Diversity, and Robustness
    He, Y. ; Ge, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Neural Networks and Learning Systems, Jg. 35 (2024-02-01), Heft 2, S. 2588-2601
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    From Pre-Training to Meta-Learning: A Journey in Low-Resource-Language Representation Learning
    Zaikis, D. ; Vlahavas, I.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 115951-115967
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Study of Low Resource Language Document Extractive Summarization using Lexical chain and Bidirectional Encoder Representations from Transformers (BERT)
    Deshpande, Pranjali ; Jahirabadkar, Sunita
    In: 2021 International Conference on Computational Performance Evaluation (ComPE), 2021-12-01, S. 457-461
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A Novel lncRNA-Disease Association Prediction Model Using Laplacian Regularized Least Squares and Space Projection-Federated Method
    Chen, M. ; Peng, Y. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 111614-111625
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Bilingual Lexical Induction for Sinhala-English using Cross Lingual Embedding Spaces
    Liyanage, Anushika ; Ranathunga, Surangika ; et al.
    In: 2021 Moratuwa Engineering Research Conference (MERCon), 2021-07-27, S. 579-584
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    The effects of process variations on microstrip wafer calibration
    Walters, P.C. ; Pollard, R.D. ; et al.
    In: 1993 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, 1993, S. 118-122
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Corpulyzer: A Novel Framework for Building Low Resource Language Corpora
    Tahir, B. ; Mehmood, M.A.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 8546-8563
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Measurement of rectifying diode impedance and efficiency for energy harvesting applications
    Milosevic, Branka ; Radovanovic, Milos ; et al.
    In: IEEE EUROCON 2019 -18th International Conference on Smart Technologies, 2019-07-01, S. 1-5
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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