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    The machine layout within a TFT-LCD bay with a multiple-stacker crane in-line stocker
    HO, Ying-Chin ; SU, Teng-Sheng
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 18-20, S. 5152-5172
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    A GA-based method to reduce material handling: the case of TFT-LCD array Fabs in Taiwan
    TSENG, Shian-Shyong ; CHANG, Fengming M ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 49 (2011), Heft 22-24, S. 6691-6711
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    Lean-pull strategy in a re-entrant manufacturing environment: a pilot study for TFT-LCD array manufacturing
    TAHO, YANG ; HSIEH, Chiung-Hsi ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 49 (2011), Heft 6-8, S. 1511-1529
    Online academicJournal
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    Robust production and transportation planning in thin film transistor-liquid crystal display (TFT-LCD) industry under demand and price uncertainties
    WU, Cheng-Hung ; LIN, James T ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 48 (2010), Heft 19-20, S. 6037-6060
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    Employing box-and-whisker plots for learning more knowledge in TFT-LCD pilot runs
    LI, Der-Chiang ; CHEN, Chien-Chih ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 6-8, S. 1539-1553
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    A rework-based dispatching algorithm for module process in TFT-LCD manufacture
    HYUN JOON, SHIN ; YONG HA, KANG
    In: International journal of production research, Jg. 48 (2010), Heft 3-4, S. 915-931
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    A hybrid dynamic pre-emptive and competitive neural-network approach in solving the multi-objective dispatching problem for TFT-LCD manufacturing
    YANG, Taho ; JIUNN CHENN, LU
    In: International journal of production research, Jg. 48 (2010), Heft 15-16, S. 4807-4828
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    An effective and efficient defect inspection system for TFT-LCD polarised films using adaptive thresholds and shape-based image analyses
    NOH, Chung-Ho ; LEE, Seok-Lyong ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 48 (2010), Heft 17-18, S. 5115-5135
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    A fuzzy AHP-based performance evaluation model for implementing SPC in the Taiwanese LCD industry
    HUANG, Chiao-Tzu ; YEH, Tsu-Ming ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 47 (2009), Heft 18, S. 5163-5183
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    Two-phased meta-heuristic methods for the post-mapping yield control problem
    SU, C.-T ; YANG, C.-H
    In: Advances in evolutionary computation for design and manufacturing problems, Jg. 44 (2006), Heft 22, S. 4837-4854
    Online academicJournal
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    Capacity-filtering algorithms for finite-capacity planning of a flexible flow line
    CHOI, B. K ; SEO, J. C
    In: International journal of production research, Jg. 47 (2009), Heft 12, S. 3363-3386
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    A fuzzy AHP evaluation model for buyer―supplier relationships with the consideration of benefits, opportunities, costs and risks
    LEE, Amy H. I
    In: International journal of production research, Jg. 47 (2009), Heft 15, S. 4255-4280
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    A multi-model approach to determine early manufacturing parameters for small-data-set prediction
    LI, Der-Chiang ; LIU, Chiao-Wen ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 22-24, S. 6679-6690
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    Employing dependent virtual samples to obtain more manufacturing information in pilot runs
    LI, Der-Chiang ; CHEN, Chien-Chih ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 22-24, S. 6886-6903
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    Analysing optimum push/pull junction point location using multiple criteria decision-making for multistage stochastic production system
    LU, Jiunn-Chenn ; TAHO, YANG ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 50 (2012), Heft 18-20, S. 5523-5537
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    Minimising makespan on parallel batch processing machines with non-identical ready time and arbitrary job sizes
    CHUNG, S. H ; TAI, Y. T ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 47 (2009), Heft 18, S. 5109-5128
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    A multi-phase model for product part change problems
    WANG, H. S ; CHE, Z. H
    In: International journal of production research, Jg. 46 (2008), Heft 10, S. 2797-2825
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    Automatic identification of spatial defect patterns for semiconductor manufacturing
    WANG, C.-H ; WANG, S.-J ; et al.
    In: International journal of production research, Jg. 44 (2006), Heft 23, S. 5169-5185
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