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    (Invited)Electrochemical Biosensors Based on CMOS LSI Chips
    Uno, Shigeyasu
    In: ECS Transactions, Jg. 85 (2018-04-10), S. 167-174
    Online unknown
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    (Invited) How to Integrate MEMS on Foundry-Fabricated CMOS Backplanes
    Schulze, Matthias ; Hohle, Christoph ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 80 (2017-08-01), S. 147-155
    Online unknown
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    (Plenary) Beyond-Si CMOS Technologies Based on High-Mobility Channels
    Ma, T.P.
    In: ECS Transactions, Jg. 54 (2013-06-28), S. 15-24
    Online unknown
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    (Invited) Feasibility of Ge CMOS for Beyond Si-CMOS
    Nagashio, Kosuke ; Nishimura, Tomonori ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 33 (2010-10-01), S. 33-46
    Online unknown
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    (Invited) Commercial CMOS-Integrated RF-MEMS
    Morris, Art ; Cunningham, Shawn J.
    In: ECS Transactions, Jg. 53 (2013-05-03), S. 255-263
    Online unknown
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    (Invited) Ge Photodiodes for CMOS Photonics Optical Engines and Interconnects
    Masini, G. ; Sahni, S.
    In: ECS Transactions, Jg. 50 (2013-03-15), S. 773-777
    Online unknown
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    Simulations of FDSOI CMOS with Sharing Contact between Source/Drain and Back Gate
    Yin, Haizhou ; Chen, Dapeng ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 34 (2011-03-21), S. 43-48
    Online unknown
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    (Invited) From MEMS-CMOS towards Heterogeneous Integration over Scale
    Toshiyoshi, Hiroshi ; Fujita, Hiroyuki ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 45 (2012-04-27), S. 93-99
    Online unknown
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    (Keynote) Unipolar CMOS Logic for Post-Si ULSI and TFT Technologies
    Ma, T. P. ; Sun, Xiao
    In: ECS Transactions, Jg. 37 (2011-06-24), S. 207-215
    Online unknown
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    (Invited) CMOS MEMS Integration
    Fedder, Gary K.
    In: ECS Transactions, Jg. 35 (2011-04-25), S. 331-340
    Online unknown
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    CMOS Technology Toward Green
    Wu, Hanming ; Chi, Min-hwa
    In: ECS Transactions, Jg. 27 (2010-11-23), S. 27-32
    Online unknown
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    CMOS-Based Microsensors
    Jae Hyeong Seo ; Brand, Oliver
    In: ECS Transactions, Jg. 3 (2006-10-20), S. 447-461
    Online unknown
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    Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy (IETS) Study of Ultra-Thin Gate Dielectrics for Advanced CMOS Technology
    Ma, Tso-Ping
    In: ECS Transactions, Jg. 35 (2011-04-25), S. 545-561
    Online unknown
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    Integration of Compound Semiconductor Devices and CMOS (CoSMOS) with Die to Wafer Bonding
    James Chingwei Li ; Patterson, Pamela R. ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 221-225
    Online unknown
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    High-speed, Monolithic CMOS Receivers with Ge on Si Waveguide Photodetectors
    Masini, Gianlorenzo ; Gunn, Cary ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 601-608
    Online unknown
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    Aspects of Bonding Processed CMOS Wafers
    Knechtel, Roy
    In: ECS Transactions, Jg. 16 (2008-10-03), S. 39-46
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    RF CMOS Device Modelling for on Chip EMC Evaluation
    Jose Camargo da Costa ; Ryan M. Dias Rangel
    In: ECS Transactions, Jg. 4 (2007-11-21), S. 265-274
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Cleaning and Strip Requirement for Metal Gate Based CMOS Integration
    Cleas, Martine ; Albert, Johan ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 25 (2009-09-25), S. 17-28
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Front-End Process Technology for hp65/45 CMOS Devices
    Nara, Yasuo ; Ootsuka, Fumio ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 2 (2006-04-28), S. 27-31
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    Effect of Inductively Coupled Electromagnetic Field on Bottom Oxide Etch in a High Aspect Ratio Trench
    Redolfi, Augusto ; Sardo, Stefano ; et al.
    In: ECS Transactions, Jg. 102 (2021-05-07), S. 117-123
    Online unknown
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xs 0 - 576
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