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    Prospects for Wide Bandgap and Ultrawide Bandgap CMOS Devices
    Han Wui Then ; Hickman, Austin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-10-01), S. 4010-4020
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    A Charge Transfer Model for CMOS Image Sensors
    Yao, Suying ; Theuwissen, Albert J. P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016), S. 32-41
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    Analysis and Equivalent-Circuit Model for CMOS On-Chip Multiple Coupled Inductors in the Millimeter-Wave Region
    Yin, Wen-Yan ; Sun, Lingling ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 62 (2015-12-01), S. 3957-3964
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    Static and Dynamic Oxide-Trapped- Charge-Induced Variability in Nanoscale CMOS Circuits
    Zebrev, Gennady I.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-06-01), S. 2483-2488
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    Performance of Deep-Depletion Buried-Channel $n$-MOSFETs for CMOS Image Sensors
    Kar-Roy, Arjun ; Zhang, Z. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-12-01), S. 4173-4179
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    CMOS Small-Signal and Thermal Noise Modeling at High Frequencies
    Papathanasiou, Kostas ; Makris, Nikolaos ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-11-01), S. 3726-3733
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    SPICE-Based Performance Analysis of Trigate Silicon Nanowire CMOS Circuits
    Saitoh, Masumi ; Numata, Toshinori ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013-04-01), S. 1451-1456
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    Design Impact on Charge Transfer Inefficiency of Surface CCD on CMOS Devices: TCAD and Characterization Study
    Molina, Romain ; Bouhier, Matthieu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2016-03-01
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    Simulation and Design Methodology for Hybrid SET-CMOS Integrated Logic at 22-nm Room-Temperature Operation
    Drouin, Dominique ; Beauvais, Jacques ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 59 (2012-04-01), S. 918-923
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    Fabrication and Electrical Characterization of Fully CMOS-Compatible Si Single-Electron Devices
    Koppinen, P. J. ; Zimmerman, Neil M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 60 (2013), S. 78-83
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    Grain-Orientation Induced Quantum Confinement Variation in FinFETs and Multi-Gate Ultra-Thin Body CMOS Devices and Implications for Digital Design
    Singh, Navab ; Seid Hadi Rasouli ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-08-01), S. 2282-2292
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    CMOS-SOI-MEMS Transistor for Uncooled IR Imaging
    Gutman, Z. ; Bar-Lev, Sharon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-09-01), S. 1935-1942
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    Impact of Gate Leakage on Performances of Phase-Locked Loop Circuit in Nanoscale CMOS Technology
    Chen, Jung-Sheng ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-08-01), S. 1774-1779
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    A Dual-Capture Wide Dynamic Range CMOS Image Sensor Using Floating-Diffusion Capacitor
    Cho, Jihyun ; Han, Gunhee ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-10-01), S. 2590-2594
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    Integration of RF MEMS and CMOS IC on a Printed Circuit Board for a Compact RF System Application Based on Wafer Transfer
    Yang, Rong ; Kwong, Dim-Lee ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-09-01), S. 2484-2491
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    Low-Noise Avalanche Photodiode in Standard 0.35-$\mu \hbox{m}$ CMOS Technology
    Scandiuzzo, M. ; Gian-Franco Dalla Betta ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008), S. 457-461
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    A 12-GHz Low-Phase-Noise Voltage-Controlled Oscillator Using Novel Field-Plate CMOS Transistors
    Wei, Chien-Cheng ; Chiu, Hsien-Chin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-10-01), S. 2803-2807
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    A Novel Low-Cost Trigate Process Suitable for Embedded CMOS 1T-1C Pseudo-SRAM Application
    Xiong, Weize ; Zaman, R.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-03-01), S. 448-455
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    Analytical Design Algorithm of Planar Inductor Layout in CMOS Technology
    Kuan, Han-Chien ; Hsu, Heng-Ming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-11-01), S. 3208-3213
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    A Three-Dimensional Stacked Fin-CMOS Technology for High-Density ULSI Circuits
    Feng, Chuguang ; Chan, Mansun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 52 (2005-09-01), S. 1998-2003
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