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    Simulations of hybrid charge-sensing single-electron-transistors and CMOS circuits
    Ono, Keiji ; Tanamoto, Tetsufumi
    In: Applied Physics Letters, Jg. 119 (2021-10-25), S. 174002-174002
    Online unknown
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    High performance high-κ/metal gate complementary metal oxide semiconductor circuit element on flexible silicon
    Muhammad Mustafa Hussain ; G. A. Torres Sevilla ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 108 (2016-02-29), S. 094102-94102
    Online unknown
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    Flexible complementary metal oxide semiconductor microelectrode arrays with applications in single cell characterization
    Pajouhi, Hossein ; Jou, A. Y. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 107 (2015-11-16), S. 203103-203103
    Online unknown
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    Picosecond hot electron light emission from submicron complementary metal–oxide–semiconductor circuits
    Kash, Jeffrey A. ; Tsang, J. C.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 70 (1997-02-17), S. 889-891
    Online unknown
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    Metal-dielectric band alignment and its implications for metal gate complementary metal-oxide-semiconductor technology
    Hu, Chenming ; Yeo, Yee-Chia ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 92 (2002-12-15), S. 7266-7271
    Online unknown
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    Active junction isolation for smart power integrated circuits
    Holland, Paul ; Igic, Petar ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 84 (2004-06-21), S. 5148-5149
    Online unknown
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    A silicon-on-insulator complementary-metal-oxide-semiconductor compatible flexible electronics technology
    Tu, Hongen ; Xu, Yong
    In: Applied Physics Letters, Jg. 101 (2012-07-30), S. 052106-52106
    Online unknown
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    Room-temperature demonstration of low-voltage and tunable static memory based on negative differential conductance in silicon single-electron transistors
    Saitoh, Masumi ; Harata, Hidehiro ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 85 (2004-12-20), S. 6233-6235
    Online unknown
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    Compact models considering incomplete voltage swing in complementary metal oxide semiconductor circuits at ultralow voltages: A circuit perspective on limits of switching energy
    Sumeet Kumar Gupta ; Raychowdhury, Arijit ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 105 (2009-05-01), S. 094901-94901
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Polycrystalline silicon/metal stacked gate for threshold voltage control in metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
    Hu, Chenming ; Polishchuk, I.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 76 (2000-04-03), S. 1938-1940
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Local silicon-gate carbon nanotube field effect transistors using silicon-on-insulator technology
    Liang, Qi ; Chai, Yang ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 89 (2006-07-10), S. 023116-23116
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Electrochemically controlled transport of lithium through ultrathin SiO2
    Sadoway, Donald R. ; Ariel, Nava ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 98 (2005-07-15), S. 023516-23516
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Scalability of spin field programmable gate array: A reconfigurable architecture based on spin metal-oxide-semiconductor field effect transistor
    Saito, Yoshiaki ; Ikegami, Kazutaka ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 109 (2011-04-01), S. 07C312
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Self-assembled nanodielectrics and silicon nanomembranes for low voltage, flexible transistors, and logic gates on plastic substrates
    Jong Hyun Ahn ; Marks, Tobin J. ; et al.
    In: Applied Physics Letters, Jg. 95 (2009-11-02), S. 183504-183504
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Metal-ferroelectric-metal capacitor based persistent memory for electronic product code class-1 generation-2 uhf passive radio-frequency identification tag
    Kim, Kyung-Ho ; Yeon, Su-jin ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 105 (2009-03-15), S. 061628-61628
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A model for electric degradation of interconnect low-k dielectrics in microelectronic integrated circuits
    Haase, Gaddi S.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 105 (2009-02-15), S. 044908-44908
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    Alpha particle mitigation strategies to reduce chip soft error upsets
    Rodbell, Kenneth P. ; Gordon, M. S. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 101 (2007), S. 014902-14902
    Online unknown
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