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    Prototype of simultaneous bidirectional data-transmitter in 65 nm CMOS
    Krüger, Hans ; Kishishita, T.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 16 (2021-06-01), S. T06002
    Online unknown
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    Cryogenic characterization of 180 nm CMOS technology at 100 mK
    Gnani, Dario ; Grace, Carl ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-06-23), S. P06026
    Online unknown
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    Neutron induced noise degradation of ASICs in 350 nm CMOS technology
    Yaoguang, Liu ; Ying, Zhang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-10-19), S. T10005
    Online unknown
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    Test beam measurement of ams H35 HV-CMOS capacitively coupled pixel sensor prototypes with high-resistivity substrate
    M. Vicente Barrero Pinto ; Kiehn, Moritz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, 2018
    Online unknown
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    Spectrum1k — integrated circuit for medical imaging designed in CMOS 40 nm
    Kmon, P. ; Szczygieł, R. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 17 (2022-03-01), S. C03023
    Online unknown
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    MAPS sensor for radiation imaging designed in 180 nm SOI CMOS technology
    Tomasek, L. ; Neue, G. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-06-18), S. C06004
    Online unknown
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    Characterization of pixel sensor designed in 180 nm SOI CMOS technology
    Tomasek, L. ; Janoska, Z. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-01-19), S. C01025
    Online unknown
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    Radiation-hard Active Pixel Sensors for HL-LHC Detector Upgrades based on HV-CMOS Technology
    Miucci, A ; Gonella, L ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-05-30), S. C05064
    Online unknown
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    A low-power 12.5 Gbps serial link transmitter ASIC for particle detectors in 65 nm CMOS
    Zuo, Z. ; Tang, Yuxuan ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-02-17), S. C02063
    Online unknown
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    Design of fast signal processing readout front-end electronics implemented in CMOS 40 nm technology
    Kleczek, Rafal
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-12-01), S. C12001
    Online unknown
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    A low-power 10-bit 250 MS/s dual-channel pipeline ADC in 0.18 μm CMOS
    Liu, T. ; Chen, Jinghong ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-02-06), S. C02018
    Online unknown
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    Design of a 12-bit 2 MS/s 12 mW pipelined SAR ADC in CMOS 0.18 μm technology for CZT-based imaging system
    Hu, Yann ; Wei, Xiaomin ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-12-07), S. P12006
    Online unknown
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    Development of a low power Delay-Locked Loop in two 130 nm CMOS technologies
    Idzik, Marek ; Fiutowski, Tomasz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-02-09), S. C02027
    Online unknown
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    A 12-bit 60-MS/s 36-mW SHA-less opamp-sharing pipeline ADC in 130 nm CMOS
    Vosooghi, Bozorgmehr ; Liu, T. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-01-12), S. C01010
    Online unknown
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    Development of scalable frequency and power Phase-Locked Loop in 130 nm CMOS technology
    Fiutowski, Tomasz ; Świentek, K. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-02-10), S. C02006
    Online unknown
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Readout electronics for low dark count Geiger mode avalanche photodiodes fabricated in conventional HV-CMOS technologies for future linear colliders
    Vilà, Anna ; Garrido, L. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 6 (2011-01-05), S. C01015
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Single-event upset sensitivity of latches in a 90nm dual and triple well CMOS technology
    Pierobon, L ; Marchioro, A. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 6 (2011-12-06), S. C12011
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Response of a 0.25 μm thin-film silicon-on-sapphire CMOS technology to total ionizing dose
    Reed, Robert A. ; Liu, T. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 5 (2010-11-29), S. C11021
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Noise characterisation of MOS transistors in a 0.35 μm CMOS technology of geometries dedicated to front-end circuits for strip detectors
    Dabrowski, Wladyslaw ; Fiutowski, Tomasz
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 1 (2006-11-07), S. P11001
    Online unknown
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    Radiation hard pixel sensors using high-resistive wafers in a 150 nm CMOS processing line
    Owtscharenko, N. ; Hügging, Fabian ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12, Heft 06, S. P06020
    Online unknown
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