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    A Charge-Control SPICE Engineering Model for the Parasitic Bipolar Transistor Action in SOI CMOS Single-Event Upsets
    Liu, H.Y. ; Fulkerson, David E.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-02-01), S. 275-287
    Online unknown
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    Body tie placement in CMOS/SOI digital circuits for transient radiation environments
    Alles, Michael L. ; Kerns, S.E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 38 (1991-12-01), S. 1259-1264
    Online unknown
    Zugriff:
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    Heavy Ion-Induced Single Event Upsets of Microcircuits; A Summary of the Aerospace Corporation Test Data
    Kolasinski, W. A. ; Koga, R.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 31 (1984), S. 1190-1195
    Online unknown
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Neutron Irradiation for Prevention of Latch-Up in MOS Integrated Circuits
    Sokel, R. J. ; Adams, J. R.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 26 (1979), S. 5069-5073
    Online unknown
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