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    Design optimization of SiGe BiCMOS Silicon Controlled Rectifier for Charged Device Model (CDM) protection applications
    Cui, Qiang ; Liou, Juin J. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 54 (2014), S. 57-63
    Online unknown
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    vfTLP-VTH: A new method for quantifying the effectiveness of ESD protection for the CDM classification test
    Ellis, David F. ; Hajjar, Jean-Jacques ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 53 (2013-02-01), S. 196-204
    Online unknown
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    Investigation on CDM ESD events at core circuits in a 65-nm CMOS process
    Tang Long Chang ; Lin, Chun-Yu ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 52 (2012-11-01), S. 2627-2631
    Online unknown
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Verification of CDM circuit simulation using an ESD evaluation circuit
    Etherton, M. ; Mettler, S. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-07-01), S. 1036-1043
    Online unknown
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    A 3-D circuit model to evaluate CDM performance of Ics
    P.C. de Jong ; Mouthaan, A.J. ; et al.
    In: Microelectronics reliability, Jg. 45 (2005-11-01), Heft 9-11, S. 1425-1429
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Process influence on product CDM ESD performance
    Lisenker, Boris
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 43 (2003-07-01), S. 1029-1037
    Online unknown
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    Gate-controlled field-effect diodes and silicon-controlled rectifier for charged-device model ESD protection in advanced SOI technology
    Cao, Shuqing ; Beebe, Stephen G. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 51 (2011-04-01), S. 756-764
    Online unknown
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    Active ESD protection circuit design against charged-device-model ESD event in CMOS integrated circuits
    Chen, Shih-Hung ; Ker, Ming-Dou
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-09-01), S. 1502-1505
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    ESD protection strategies in advanced CMOS SOI ICs
    Khazhinsky, Michael G.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-09-01), S. 1313-1321
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    New considerations for MOSFET power clamps
    Poon, Steven S. ; Maloney, Timothy J.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 43 (2003-07-01), S. 987-991
    Online unknown
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