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    Noise figure optimization of inductively degenerated CMOS LNAs with integrated gate inductors
    Haslett, James W. ; Belostotski, Leonid
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 53 (2006-07-01), S. 1409-1422
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    A Built-In-Test Circuit for RF Differential Low Noise Amplifiers
    Tsiatouhas, Yiorgos ; Dermentzoglou, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 57 (2010-07-01), S. 1549-1558
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    Analysis and Design of N-Path Filter Offset Tuning in a 0.7–2.7-GHz Receiver Front-End
    Ryynanen, Jussi ; Kaltiokallio, Mikko ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 62 (2015), S. 234-243
    Online unknown
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    Applications of Body Biasing in Multistage CMOS Low-Noise Amplifiers
    Rashtian, Hooman ; Mirabbasi, Shahriar
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 61 (2014-06-01), S. 1638-1647
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    A 24 GHz Subharmonic Direct Conversion Receiver in 65 nm CMOS
    Sosio, M. ; Mazzanti, Andrea ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 58 (2011), S. 88-97
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    A Current Injection Built-In Test Technique for RF Low-Noise Amplifiers
    Sanchez-Sinencio, Edgar ; Onabajo, Marvin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 55 (2008-08-01), S. 1794-1804
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    Development of Integrated Broad-Band CMOS Low-Noise Amplifiers
    Yi-Jan Emery Chen ; Huang, Yen-Chuan
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 54 (2007-10-01), S. 2120-2127
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Wide-band CMOS cascode low-noise amplifier design based on source degeneration topology
    Namgoong, Won ; Lerdworatawee, J.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 52 (2005-11-01), S. 2327-2334
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    RF Circuit Linearity Optimization Using a General Weak Nonlinearity Model
    Annema, Anne-Johan ; Nauta, Bram ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 59 (2012-10-01), S. 2340-2353
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