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  1. Joy, Soumitra ; Joshi, Kaustubh ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1
    Konferenz
  2. Yu, Qiang ; Then, Han Wui ; et al.
    In: 2023 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS, 2023-06-11, S. 931-934
    Konferenz
  3. Yu, Qiang ; Thomson, Derek ; et al.
    In: 2022 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2022-10-16, S. 144-147
    Konferenz
  4. Then, Han Wui ; Radosavljevic, M. ; et al.
    In: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022-12-03, S. 1
    Konferenz
  5. Yu, Qiang ; Then, Han Wui ; et al.
    In: 2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022-06-12, S. 126-127
    Konferenz
  6. Then, Han Wui ; Radosavljevic, Marko ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), Heft 12, S. 5306-5314
    Online academicJournal
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sm 576 - 768
md 768 - 992
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