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  1. Cheng, W. C. ; Chen, H.-M.P.
    In: IS & T SID COLOR IMAGING CONFERENCE, Jg. CONF 17TH (2009), S. 254-259
    Konferenz
  2. Lee, Y. K. ; Seok, J. K. ; et al.
    In: PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING, COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION, Jg. 2 (2009), S. 798-801
    Konferenz
  3. Lai, H. C. ; Lin, Z. M.
    In: ENGINEERS AND COMPUTER SCIENTISTS; IMECS 2007, Jg. 1 (2007), S. 675-678
    Online Konferenz
  4. Pan, H. ; Feng, X. F. ; et al.
    In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING, Jg. 4 (2005), S. 2533-2536
    Konferenz
  5. Marcu, G.
    In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING, Jg. 4 (2005), S. 2529-2532
    Konferenz
  6. Hong, S. ; Berkeley, B. ; et al.
    In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING, Jg. 4 (2005), S. 2513-2516
    Konferenz
  7. Yoshida, Y. ; Yamamoto, Y.
    In: IS AND TS PICS CONFERENCE, 2002, S. 35-41
    Konferenz
  8. Saitoh, F.
    1999
    Konferenz
  9. Song, T. E. ; Kim, S. Y. ; et al.
    In: PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING, COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION; 2008, Jg. CONF 2008, S. 335-341
    Konferenz
  10. Song, Z. ; Chung, R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS OF THE INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGE PROCESSING, COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION ; 2007, Jg. CONF 2007, S. 164-170
    Konferenz
  11. Park, C. J. ; Oh, W. G. ; et al.
    Konferenz
  12. Lim, T. K. ; Kam, C. H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, , Heft E 2847, S. 324-330
    Konferenz
  13. Liu, H. ; Liu, Y. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8335 (2012), S. 8335 0S
    Konferenz
  14. Mora-Gonzalez, M. ; Chiu-Zarate, R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8436 (2012), S. 8436 0K
    Konferenz
  15. Huang, T. H. ; Kao, C. T. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8291 (2012), S. 8291 1Q
    Konferenz
  16. Shu, X. ; Wu, X. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8305 (2012), S. 8305 0K
    Konferenz
  17. Shih, K. T. ; Huang, T. H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8135 (2011), S. 8135 0V
    Konferenz
  18. Mitja, C. ; Escofet, J.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7867 (2011), S. 7867 0I
    Konferenz
  19. Zhang, J.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2010, Heft 7749, S. 7749 11
    Konferenz
  20. Li, X. ; Ma, G. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2010, Heft 7749, S. 7749 0X
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -