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    Automated visual inspection of LCD modules [2847-40] : Applications of digital image processing XIX
    Lim, T. K. ; Kam, C. H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, , Heft E 2847, S. 324-330
    Konferenz
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    Composed filter for attenuating bi-frequential noise on LCD-generated ronchigrams [8436-19] : Optics, photonics, and digital technologies for multimedia applications
    Mora-Gonzalez, M. ; Chiu-Zarate, R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8436 (2012), S. 8436 0K
    Konferenz
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    Quality assessment of images illuminated by dim LCD backlight [8291-63] : Human vision and electronic imaging
    Huang, T. H. ; Kao, C. T. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8291 (2012), S. 8291 1Q
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    An improved LCD multi-line location algorithm with redundant term [7749B-60] : international conference on display and photonics
    Zhang, J.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2010, Heft 7749, S. 7749 11
    Konferenz
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    Design of LED backlight system used for ultra-slim LCD TV [7749B-48] : international conference on display and photonics
    Li, X. ; Ma, G. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, 2010, Heft 7749, S. 7749 0X
    Konferenz
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    Stereoscopic display technologies for FHD 3D LCD TV (Invited Paper) [7690A-07] : Three-dimensional imaging, visualization, and display 2010 and display technologies and applications for defense, security, and avionics IV
    Kim, D. S. ; Ko, Y. J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7690 (2010), S. 7690 08
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    FSC LCD technology for military and avionics applications [7327-18] : Display technologies and applications for defense, security, and avionics
    Sarma, K.R. ; Schmidt, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7327 (2009), S. 7327 0D
    Konferenz
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    Fast three-dimensional shape recovery in TFT-LCD manufacturing [7073-75] : Applications of digital image processing
    Choi, W. J. ; Choi, T. S.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7073 (2008), S. 7073 1U
    Konferenz
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    Non referential method for defects inspection of TFT-LCD pad [6813-30] : Image processing: machine vision applications
    Kim, H.W. ; Yoo, S.I.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6813 (2008), S. 6813 0V
    Konferenz
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    Directional filter banks for detecting un-patterned TFT-LCD defect [6813-29] : Image processing: machine vision applications
    Park, N.K. ; Kim, H.W. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6813 (2008), S. 6813 0U
    Konferenz
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