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  1. Lee, Muyeon ; Kwon, Ickjin
    In: IET Circuits, Devices & Systems (Wiley-Blackwell), Jg. 12 (2018), Heft 1, S. 12-16
    academicJournal
  2. Liu, S. ; Thomson, D.J. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 51 (2015-11-01), Heft 24, S. 1900-1902
    Online academicJournal
  3. Leite, B. ; Kerhervé, E. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 50 (2014-09-01), Heft 19, S. 1451-1453
    Online academicJournal
  4. Lin, Y.‐S. ; Lee, G.‐L. ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 50 (2014), Heft 1, S. 207-209
    Online academicJournal
  5. Lee, Muyeon ; Kwon, Ickjin
    In: IET Circuits, Devices & Systems (Wiley-Blackwell), Jg. 12 (2018), Heft 1, S. 12-16
    academicJournal
  6. Kwak, Kang‐Sub ; Hong, Seong‐Kwan ; et al.
    In: Electronics Letters (Wiley-Blackwell), Jg. 50 (2014-09-01), Heft 19, S. 1371-1373
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
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