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In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 11, S. 1251-1260KonferenzZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 37 (2006), Heft 4, S. 275-282academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 10-11, S. 1042-1049academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 35 (2004), Heft 12, S. 939-944academicJournalZugriff:
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In: 3rd International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Jg. 35 (2004), Heft 6, S. 509-523KonferenzZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 1, S. 130-139academicJournalZugriff:
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In: International mixed-signals testing workshop, Jg. 36 (2005), Heft 12, S. 1080-1090KonferenzZugriff:
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In: Microelectronics journal, Jg. 38 (2007), Heft 12, S. 1135-1149academicJournalZugriff: