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    The influence of high ionizing dose rate on CMOS IC radiation hardness used in da-ta transmission elements
    Kalashnikov, Vladislav D. ; Alexey Yu. Egorov ; et al.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 27 (2020-09-01), Heft 3, S. 98-103
    Online academicJournal
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    Evaluating CMOS chip sensitivity parameters to single event upsets under influence of neutrons by the burst generation rate function
    Titovets, Dmitry O. ; Kravchenko, Nikolay D. ; et al.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 27 (2020-09-01), Heft 3, S. 89-97
    Online academicJournal
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    Features of the model of main information failures in digital CMOS VLSI at impact of the radiation
    Barbashov, Vyacheslav M. ; Trushkin, Nikolai S.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 25 (2018-03-01), Heft 1, S. 34-40
    Online academicJournal
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    The Trusted UHF Receiver for Radio Frequency Identification of Critical Infrastructure Objects
    Sotskov, Denis I. ; Zubakov, Alexey V. ; et al.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 30 (2023-12-01), Heft 4, S. 114-127
    Online academicJournal
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    The Specialized RF Elements Library for Trusted Transceiver VLSI Design
    Sotskov, Denis I. ; Zubakov, Alexey V. ; et al.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 30 (2023-09-01), Heft 3, S. 104-115
    Online academicJournal
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    Measurement of the radius of curvature of a spherical surface based on the transport-of-intensity equation
    Stsepuro, N.G. ; Kovalev, M.S. ; et al.
    In: Компьютерная оптика, Jg. 46 (2022-12-01), Heft 6, S. 877-883
    Online academicJournal
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    Review of laser scanning methods for microelectronic semiconductor structures investigation
    Mozhaev, Roman K. ; Pechenkin, Alexander A. ; et al.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 29 (2022-11-01), Heft 4, S. 105-125
    Online academicJournal
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    THERE IS AN OPINION: 'What could be the program for creating domestic CAD systems?'
    Gorbunov, Maxim S. ; Danilov, Igor A.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 29 (2022-09-01), Heft 3, S. 11-17
    Online academicJournal
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    Comparative analysis of tolerance to space ionizing radiation for ReRAM and other non-volatile memory types
    Petrov, Andrey G. ; Shvetsov-Shilovskiy, Ivan I. ; et al.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 29 (2022-06-01), Heft 2, S. 100-111
    Online academicJournal
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    Ferroelectric memory: state-of-the-art manufacturing and research
    Abdullaev, D. A. ; Milovanov, R. A. ; et al.
    In: Российский технологический журнал, Jg. 8 (2020-10-01), Heft 5, S. 44-67
    Online academicJournal
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    An approach to low noise amplifier optimization in Advanced Design System CAD
    Galina Nikolaevna Nazarova ; Vadim Vladimirovich Elesin ; et al.
    In: Безопасность информационных технологий, Jg. 23 (2016-10-01), Heft 3, S. 49-54
    Online academicJournal
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