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    IR CMOS: ultrafast laser-enhanced silicon detection [8012-62] : Infrared technology and applications
    Pralle, M.U. ; Carey, J.E. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8012 (2011), Heft 1, S. 8012 22
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Scale down of p-n junction diodes of an uncooled IR-FPA for improvement of the sensitivity and thermal time response by 0.13-μm CMOS technology [8012-47] : Infrared technology and applications
    Fujiwara, I. ; Sasaki, K. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8012 (2011), Heft 1, S. 8012 1G
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A high fill-factor high-SNR CMOS image sensor for IR camera applications [8012-125] : Infrared technology and applications
    Shenoy, V. ; McBride, D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 8012 (2011), Heft 1, S. 8012 0J
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    THz imaging with low-cost 130 nm CMOS transistors [7837-03] : Millimetre wave and terahertz sensors and technology
    Schuster, F. ; Sakowicz, M. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7837 (2010), S. 7837 04
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Fundamental performance differences between CMOS and CCD imagers, part IV (7742-11) : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Janesick, J. ; Pinter, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7742 (2010), S. 7742 0B
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Repackaging and characterizing of a HgCdTe CMOS infrared camera for the New Solar Telescope [7742-73] : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Cao, W. ; Coulter, R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7742 (2010), S. 7742 20
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Centroid precision as a function of total counts in a windowed CMOS image of a point source [7742-82] : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Wurtz, R. ; Olivier, S. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7742 (2010), S. 7742 28
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Hybridization of a sigma-delta-based CMOS hybrid detector (7742-12) : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Kolb, K.E. ; Stoffel, N.C. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7742 (2010), S. 7742 0C
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Measurements of Si hybrid CMOS x-ray detector characteristics (7742-27) : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Bongiorno, S.D. ; Falcone, A.D. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7742 (2010), S. 7742 0R
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Gamma radiation damage study of 0.18 μm process CMOS image sensors (7742-94) : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Dryer, B. ; Holland, A. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7742 (2010), S. 7742 0E
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization of a Sigma Delta -based CMOS monolithic detector (7742-10) : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Hanold, B.J. ; Figer, D.F. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7742 (2010), S. 7742 0A
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    High performance CMOS image sensor for digitally fused day/night vision systems [7660-21] : Infrared technology and applications XXXVI: 5-9 April 2010, Orlando, Florida, United States
    Fowler, B. ; Vu, P. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7660 (2010), Heft 1, S. 7660 0O
    Konferenz
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    Black silicon enhanced photodetectors: a path to IR CMOS [7660-20] : Infrared technology and applications XXXVI: 5-9 April 2010, Orlando, Florida, United States
    Pralle, M.U. ; Carey, J.E. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7660 (2010), Heft 1, S. 7660 0N
    Konferenz
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    A novel single-poly floating-gate UV sensor using standard CMOS process [7385-125] : International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging
    Li, G. ; Li, Y. ; et al.
    In: PROCEEDINGS - SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7385 (2009), S. 7385 2B
    Konferenz
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    A new CMOS SiGeC avalanche photo-diode pixel for IR sensing [7298-111] : Infrared technology and applications
    Augusto, C. ; Forester, L. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7298 (2009), Heft 2, S. 7298 39
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A low-noise readout circuit in 0.35-μm CMOS for low-cost uncooled FPA infrared network camera [7298-149] : Infrared technology and applications
    Mesgarzadeh, B. ; Sadeghifar, M.R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7298 (2009), Heft 2, S. 7298 2F
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Low-light-level CMOS image sensor for digitally fused night vision systems [7298-49] : Infrared technology and applications
    Fowler, B. ; Liu, C. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7298 (2009), Heft 1, S. 7298 1D
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Design of prototype scientific CMOS image sensors [7021-02] : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Vu, P. ; Fowler, B. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7021 (2008), S. 7021 03
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Teledyne Imaging Sensors: silicon CMOS imaging technologies for x-ray, UV, visible, and near infrared [7021-01] : High energy, optical, and infrared detectors for astronomy
    Bai, Y. ; Bajaj, J. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 7021 (2008), S. 7021 02
    Konferenz
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    CMOS architectures and circuits for high-speed decision making from image flows [6940-77] : Infrared technology and applications
    Rodriguez-Vazquez, A. ; Dominguez-Castro, R. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6940 (2008), Heft 2, S. 6940 2F
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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