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  1. ASAHI, R ; WANG, A ; et al.
    In: Proceedings of the 2nd International Symposium on Transparent Oxide Thin Films for Electronics and Optics (TOEO-2), Tokyo, Japan, November 8-9, 2001, Jg. 411 (2002), Heft 1, S. 101-105
    Konferenz
  2. MIYAKE, Takashi ; SAITO, Susumu
    In: Chemical physics letters, Jg. 380 (2003), Heft 5-6, S. 589-594
    academicJournal
  3. MONTANARI, B ; HARRISON, N. M
    In: Chemical physics letters, Jg. 364 (2002), Heft 5-6, S. 528-534
    academicJournal
  4. XINZHENG, YANG ; MEIRONG, LIN ; et al.
    In: Chemical physics letters, Jg. 362 (2002), Heft 3-4, S. 190-198
    academicJournal
  5. POLO, Victor ; GRÄFENSTEIN, Jürgen ; et al.
    In: Chemical physics letters, Jg. 352 (2002), Heft 5-6, S. 469-478
    academicJournal
  6. BENESCH, C ; MERZ, H ; et al.
    In: Surface science, Jg. 492 (2001), Heft 3, S. 225-234
    academicJournal
  7. CARACAS, Razvan ; GONZE, Xavier
    In: Computational materials science, Jg. 22 (2001), Heft 1-2, S. 112-117
    academicJournal
  8. AKBARZADEH, H ; DADSETANI, M ; et al.
    In: Computational materials science, Jg. 17 (2000), Heft 1, S. 81-87
    academicJournal
  9. STACHIOTTI, M. G ; CATLOW, C. R. A ; et al.
    In: Physica. C. Superconductivity, Jg. 269 (1996), Heft 3-4, S. 273-278
    academicJournal
  10. FINOCCHI, F ; GONIAKOWSKI, J
    In: ECOSS-24: The proceedings of the 24th European Conference on Surface Science, Paris, France, September 4-8, 2006, Jg. 601 (2007), Heft 18, S. 4144-4148
    Konferenz
  11. ROMAN, L. S ; VALASKI, R ; et al.
    In: ACSIN8/ICTF13: Proceedings of the Eighth International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures and the Thirteenth International Congress on Thin Films, Stockholm, Sweden, June 20-23, 2005, Jg. 252 (2006), Heft 15, S. 5361-5364
    Konferenz
  12. STROPPA, A ; PERESSI, M
    In: Proceedings of the E-MRS 2004, Spring Meeting - Symposium H: Atomic materials design: modelling and characterization, Strasbourg, France, 24-28 May, Jg. 33 (2005), Heft 1-3, S. 256-262
    Konferenz
  13. LAKDJA, A ; BOUHAFS, B ; et al.
    In: Proceedings of the E-MRS 2004, Spring Meeting - Symposium H: Atomic materials design: modelling and characterization, Strasbourg, France, 24-28 May, Jg. 33 (2005), Heft 1-3, S. 157-162
    Konferenz
  14. PALACIOS, P ; WAHNON, P ; et al.
    In: Proceedings of the E-MRS 2004, Spring Meeting - Symposium H: Atomic materials design: modelling and characterization, Strasbourg, France, 24-28 May, Jg. 33 (2005), Heft 1-3, S. 118-124
    Konferenz
  15. HUANG, M ; FENG, Y. P
    In: Proceedings of the International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT 2003) and IUMRS International Conference in Asia (IUMRS-ICA 2003): Theory, Modeling and Simulation of Materials for Advanced Technologies, Singapore, 7-12 December, Jg. 30 (2004), Heft 3-4, S. 371-375
    Konferenz
  16. HJELM, Mats ; BERTILSSON, Kent ; et al.
    In: Proceedings of the European Materials Research Society 2001-Symposium F Amorphous and Crystalline Silicon Carbide: Material and Applications, Jg. 184 (2001), Heft 1-4, S. 194-198
    Konferenz
  17. BENGONE, O ; ALOUANI, M ; et al.
    In: Progress in Computational Materials Science, Jg. 17 (2000), Heft 2-4, S. 146-150
    Konferenz
  18. PREOBRAJENSKI, A. B ; CHASSE, T
    In: Proceedings of the Seventh International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces, Göteborg, Sweden, June 21-25, 1999, Jg. 166 (2000), S. 201-208
    Konferenz
  19. SCHMIDT, W. G ; BERNHOLC, J ; et al.
    In: Proceedings of the Seventh International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces, Göteborg, Sweden, June 21-25, 1999, Jg. 166 (2000), S. 179-184
    Konferenz
  20. FERREIRA DA SILVA, A ; PEPE, I ; et al.
    In: ACSIN8/ICTF13: Proceedings of the Eighth International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures and the Thirteenth International Congress on Thin Films, Stockholm, Sweden, June 20-23, 2005, Jg. 252 (2006), Heft 15, S. 5365-5367
    Konferenz
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