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    Optical Sensing of Chlorophyll(in) With Dual-Spectrum Si LEDs in SOI-CMOS Technology
    Dutta, Satadal ; Verbiest, G.J. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 22 (2022-06-15), S. 11280-11289
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    An X-Band Multifrequency Difference Frequency-Shift Keying CMOS Radar for Range Tracking and AI-Based Human Gesture Recognition
    Li, Yubing ; Wu, Qichao ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-06-01), S. 11600-11614
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    CMOS ISFETs With 3D-Truncated Sensing Structure Resistant to Scaling Attenuation and Trapped Charge-Induced Offset
    Teng, Nan-Yuan ; Lin, Chih-Ting
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-12-15), S. 27282-27289
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    A Small Footprint Digital Isolator Based on CMOS Integrated Hall-Effect Sensor
    Hassan, Ahmad ; Audet, Yves ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 22 (2022), S. 412-418
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    CMOS ISFET Arrays for Integrated Electrochemical Sensing and Imaging Applications: A Tutorial
    Moser, Nicolas ; Georgiou, Pantelis ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-10-15), S. 22155-22169
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    A Real-Time Edge-Detection CMOS Image Sensor for Machine Vision Applications
    Park, Min-Jun ; Kim, Hyeon-June
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-05-01), S. 9254-9261
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    Design and Characterization of a 16×16 CMOS Capacitive DNA Sensor Array
    Lai, Po-Hsuan ; Tseng, Lien-Sing ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-04-15), S. 8120-8127
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    A Miniaturized CMOS-MEMS Amperometric Gas Sensor for Rapid Ethanol Detection
    Do Thi Thu ; Liu, Zong-Han ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-04-15), S. 8128-8137
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    Bayesian Sensor Calibration of a CMOS-Integrated Hall Sensor Against Thermomechanical Cross-Sensitivities
    Berger, Moritz ; Schott, Christian ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-04-01), S. 6976-6989
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    A CMOS Fully Differential Optoelectronic Receiver for Short-Range LiDAR Sensors
    Joo, Ji-Eun ; Lee, Myung-Jae ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-03-01), S. 4930-4939
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    High-Precision and Resilient-to-Interference Ultrawideband Two-Way-Ranging Based on Clock-Less Active Reflector in 65-nm CMOS
    Rahmatollahi, Shoeib ; Nabki, Frederic ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-03-01), S. 4951-4963
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    Advances in Nanomaterials Integration in CMOS-Based Electrochemical Sensors: A Review
    Ghoreishizadeh, Sara ; Atal Anudeep Singh Gill
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 23 (2023-03-01), S. 4659-4671
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    Reduced Drift of CMOS ISFET pH Sensors Using Graphene Sheets
    Fobelets, Kristel ; Panteli, Christoforos ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-07-01), S. 14609-14618
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A Review of CMOS Electrochemical Readout Interface Designs for Biomedical Assays
    Liao, Yu-Te ; Yeh, Yung-Hua ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-06-01), S. 12469-12483
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    Time-Gated and Multi-Junction SPADs in Standard 65 nm CMOS Technology
    Jiang, Wei ; Scott, Ryan P. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-05-15), S. 12092-12103
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    A CMOS-MEMS Accelerometer With U-Channel Suspended Gate SOI FET
    Seena, V. ; Kadayinti, Naveen ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-05-01), S. 10465-10472
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    Sensing Characteristic Enhancement of CMOS-Based ISFETs With Three-Dimensional Extended- Gate Architecture
    Wang, Rui-Xing ; Lin, Chih-Ting ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-04-01), S. 8831-8838
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    Optical and Electrical Characterization and Modeling of Photon Detection Probability in CMOS Single-Photon Avalanche Diodes
    Mahmoudi, Hiwa ; Steindl, Bernhard ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-03-15), S. 7572-7580
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    Single Microhole per Pixel in CMOS Image Sensors With Enhanced Optical Sensitivity in Near-Infrared
    Yamada, Toshishige ; M. Saif Islam ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-05-01), S. 10556-10562
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    A CMOS Test Chip With Simple Post-Processing Steps for Dry Characterization of ISFET Arrays
    Márcio Cherem Schneider ; Rambo, Carlos R. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-02-15), S. 4755-4763
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