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    3D Elemental and interdependent reconstructions based on a novel compressed sensing algorithm in electron tomography
    Printempshor, Tony ; Bernierhor, Nicolas ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 67-68
    Nachschlagewerk
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    Atom‐Probe Tomography and Nanosciences
    Blavettehor, Didier ; Moutonhor, Isabelle ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 312-313
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Fabrication and characterization of a fine electron biprism on a Si‐on‐insulator MEMS chip
    Duchamphor, Martial ; Girardhor, Olivier ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 699-700
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    In‐situ propagation of Al in germanium nanowires observed by transmission electron microscopy
    Khalil El Hajraouihor ; Robinhor, Eric ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 205-206
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Direct comparison of differential phase contrast and off‐axis electron holography for the measurement of electric potentials by the examination of reverse biased Si p‐n junctions and III‐V samples
    Haashor, Benedikt ; Cooperhor, David ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 703-704
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Discrete STEM/EDX tomography for quantitative 3D reconstructions of chemical nanostructures
    Robinhor, Eric ; Lopez‐Harohor, Miguel ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 103-104
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Quantification of dopants in nanomaterial by SEM/EDS
    Robinhor, Eric ; Mollardhor, Nicolas ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 380-381
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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    Deformation mapping in a TEM: Dark Field Electron Holography, Nanobeam Electron Diffraction, Precession Electron Diffraction and GPA compared
    Cooperhor, David ; Bernierhor, Nicolas ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 627-628
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Mapping electrostatic potentials and deformation in semiconductor devices by off‐axis electron holography and other techniques
    Boureauhor, Victor ; Cooperhor, David ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 747-748
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Direct comparison of differential phase contrast and off‐axis electron holography for the measurement of electric potentials by the examination of reverse biased Si p‐n junctions and III‐V samples
    Haashor, Benedikt ; Cooperhor, David ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 757-758
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    An in situ multiscale approach for the characterization of plasticity and damage in a TA6V alloy
    Cazotteshor, Sophie ; Dancettehor, Sylvain ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 213-214
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Remnant states and magnetic coupling in Co/Cu multilayered nanowires observed by electron holography
    Reyeshor, David ; Luis Alfredo Rodríguezhor ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 761-762
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Measurement of energy‐loss anisotropy along [001] in monoclinic hafnia and comparison with ab‐initio simulations
    Guedjhor, Cyril ; Bernierhor, Nicolas ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 909-910
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Correlative investigations by HAADF‐STEM and Atom Probe Tomography
    Lefebvrehor, Williams ; Moyonhor, Florian ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 775-776
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dynamics of magnetic domain walls and skyrmions studied by high resolution XMCD‐PEEM microscopy
    Pizzinihor, Stefania ; Vogelhor, Jan ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 771-772
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    CelDi: Development of an advanced solid / fluid reaction stage for SEM
    Salacrouphor, Johan ; Gonnethor, Gautier ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 235-236
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    In situ SEM dynamic investigation of charging kinetics in insulating materials
    Sergio Sao Joaohor ; Meknihor, Omar ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 215-216
    Nachschlagewerk
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    In situ study of CeO2 microspheres sintering using HT‐ESEM
    Galy Ingrid Nkou Boualahor ; Podorhor, Renaud ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 231-232
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    HRTEM, HREELS analyses and modelling of nanometric oxide layers formed on 316L in simulated Pressurized Water Reactor (PWR) conditions
    Legrashor, Laurent ; Mansothor, Jean‐Louis ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 867-868
    Nachschlagewerk
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Quantitative measurement of doping and surface charge in a ZnO nanowire using in‐situ biasing and off‐axis electron holography
    Martien den Hertoghor ; Donatinihor, Fabrice ; et al.
    In: European Microscopy Congress 2016: Proceedings, 2016-11-30, S. 127-128
    Nachschlagewerk
    Wie komme ich dran?
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