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  1. CHENG, DENG ; JINGFU, BAO ; et al.
    In: Microsystem technologies, Jg. 18 (2012), Heft 5, S. 537-541
    Online academicJournal
  2. SUKOMAL, DEY ; KOUL, Shiban K
    In: Journal of micromechanics and microengineering (Print), Jg. 24 (2014), Heft 9
    academicJournal
  3. THOMAS, Susan ; PRIESTLEY, Kory J ; et al.
    In: Remote sensing for environmental monitoring, GIS applications, and geology II (Agia Pelagia, 23-26 September 2002), 2003, S. 172-181
    Konferenz
  4. RATHSACK, Ben M ; BUSHMAN, Scott G ; et al.
    In: Metrology, inspection, and process control for microlithography XIX (San Jose CA, 7-10 March 2005), 2005
    Konferenz
  5. LACONTE, J ; IKER, F ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization, MAM 2004. Proceedings of the European Workshop on Materials for Advanced Metallization 2004, Brussels, Belgium, March 7-10, Jg. 76 (2004), Heft 1-4, S. 219-226
    Konferenz
  6. THOMAS, Susan ; PRIESTLEY, K. J ; et al.
    In: Earth observing systems XI (14-16 August, 2006, San Diego, California, USA), 2006, S. 62960L.1
    Konferenz
  7. GUADAGNINI, Lorella ; BALLARIN, Barbara ; et al.
    In: Journal of nanoparticle research, Jg. 15 (2013), Heft 10
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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