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  1. SNYMAN, Lukas. W ; DU PLESSIS, Monuko ; et al.
    In: Optoelectronic integration on silicon II (San Jose CA, 25-26 January 2005), 2005, S. 59-72
    Konferenz
  2. SAFFIH, Faycal ; HORNSEY, Richard
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 193-204
    Konferenz
  3. PRYDDERCH, Mark ; WALTHAM, Nick ; et al.
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 175-185
    Konferenz
  4. MOREL, Frédéric ; LE NORMAND, Jean-Pierre ; et al.
    In: Integrated optics and photonic integrated circuits (Strasbourg, 27-29 April 2004), 2004, S. 434-440
    Konferenz
  5. GILBLOM, David L ; SANG KEUN, YOO
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 186-192
    Konferenz
  6. YANOF, Arnold W ; JACHIMOWICZ, Karen E
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 393-401
    Konferenz
  7. BERMAK, A ; BOUZERDOUM, A ; et al.
    In: Visual communications an dimage processing 2000 (Perth, 20-23 June 2000), 2000, S. 1471-1478
    Konferenz
  8. LAWRENCE, William G ; CHRISTIAN, James F ; et al.
    In: Semiconductor photodetectors II (San Jose CA, 25-26 January 2005), 2005, S. 122-131
    Konferenz
  9. DONG, WANG ; CHANKI, HA ; et al.
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 67-75
    Konferenz
  10. TKACZYK, Tomasz S ; DERENIAK, Eustace L ; et al.
    In: Semiconductor photodetectors II (San Jose CA, 25-26 January 2005), 2005, S. 77-84
    Konferenz
  11. YANDONG, CHEN ; KLEINFELDER, Stuart
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 438-449
    Konferenz
  12. FOWLER, Boyd ; BALICKI, Janusz ; et al.
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 222-231
    Konferenz
  13. MEI, YAN ; DEGERONIMO, Gianluigi ; et al.
    In: Sensors and camera systems for scientific, industrial, 2004, S. 213-221
    Konferenz
  14. XIQU, CHEN ; XIJIAN, YI
    In: Optoelectronic materials and devices for optical communications (7-10 November 2005, Shanghai, China), 2005, S. 602032.1
    Konferenz
  15. GHODSIAN, B ; MILANOVIC, V ; et al.
    In: Micromachining and microfabrication process technology V (Santa Clara CA, 20-22 September 1999), 1999, S. 120-128
    Konferenz
  16. KOMATSU, Makoto ; SAITO, Tsutomu ; et al.
    In: High-speed photography and photonics (Alexandria VA, 20-24 September 2004), 2005, S. 873-880
    Konferenz
  17. LANGE, D ; KOLL, A ; et al.
    In: Smart electronics and MEMS (San Diego CA, 2-4 March 1998), 1998, S. 233-243
    Konferenz
  18. KOLL, A ; KAWAHITO, S ; et al.
    In: Smart electronics and MEMS (San Diego CA, 2-4 March 1998), 1998, S. 223-232
    Konferenz
  19. RUBIO, C ; BOTA, S ; et al.
    In: Design, test, integration, and packaging of MEMS/MOEMS (Paris, 9-11 mai 2000), 2000, S. 171-180
    Konferenz
  20. BUNDAY, Benjamin D ; PETERSON, Amy ; et al.
    In: Metrology, inspection, and process control for microlithography XIX (San Jose CA, 7-10 March 2005), 2005
    Konferenz
xs 0 - 576
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