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    A comparative study of lifetime reliability of planar MOSFET and FinFET due to BTI for the 16 nm CMOS technology node based on reaction-diffusion model
    Soin, Norhayati ; Mohamed Mounir Mahmoud
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 97 (2019-06-01), S. 53-65
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    Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300 °C)
    Safonov, Sergey O. ; Stakhin, Veniamin G. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 416-425
    Online unknown
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    Layout-based mitigation of single-event transient for monolithic 3D CMOS integrated circuits
    Yang, Can ; Wang, Guoqing ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 126 (2021-11-01), S. 114210-114210
    Online unknown
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    The impact of BTI aging on the reliability of level shifters in nano-scale CMOS technology
    Rossi, Daniele ; Halak, Basel ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 67 (2016-12-01), S. 74-81
    Online unknown
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    Impact of single-defects on the variability of CMOS inverter circuits
    Enichlmair, Hubert ; Waltl, Michael ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 126 (2021-11-01), S. 114275-114275
    Online unknown
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    The impact of device width on the variability of post-irradiation leakage currents in 90 and 65 nm CMOS technologies
    Alles, Michael L. ; Fleetwood, Daniel M. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 52 (2012-11-01), S. 2521-2526
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    Active ESD protection circuit design against charged-device-model ESD event in CMOS integrated circuits
    Chen, Shih-Hung ; Ker, Ming-Dou
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-09-01), S. 1502-1505
    Online unknown
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    Inventory of silicon signatures induced by CDM event on deep sub-micronic CMOS–BICMOS technologies
    Beltritti, J. ; Galy, Philippe ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 50 (2010-09-01), S. 1388-1392
    Online unknown
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    Overview on ESD protection design for mixed-voltage I/O interfaces with high-voltage-tolerant power-rail ESD clamp circuits in low-voltage thin-oxide CMOS technology
    Chang, Wei-Jen ; Ker, Ming-Dou
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007), S. 27-35
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Integrated CMOS GSM baseband channel selecting filters realized using switched capacitor finite impulse response technique
    Dąbrowski, Adam ; Dlugosz, Rafal ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006-05-01), S. 949-958
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    Evaluation of RF electrostatic discharge (ESD) protection in 0.18-μm CMOS technology
    Du, Xiaoyang ; Huo, Mingxu ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 48 (2008-07-01), S. 995-999
    Online unknown
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    Design automation to suppress cable discharge event (CDE) induced latchup in 90nm CMOS ASICs
    Gauthier, Robert J. ; Brennan, Ciaran J. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-07-01), S. 1069-1073
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Passivation issues in active pixel CMOS image sensors
    Regolini, Jorge ; Benoit, Daniel ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-04-01), S. 739-742
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies
    Lewis, Dean ; Haller, Gérald ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 48 (2008-08-01), S. 1333-1338
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    Modeling the sensitivity of CMOS circuits to radiation induced single event transients
    Wirth, Gilson ; Fernanda Lima Kastensmidt ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 48 (2008), S. 29-36
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    ESD protection design for CMOS RF integrated circuits using polysilicon diodes
    Chyh Yih Chang ; Ker, Ming-Dou
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 42 (2002-06-01), S. 863-872
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Implementation of diode and bipolar triggered SCRs for CDM robust ESD protection in 90nm CMOS ASICs
    Gauthier, Robert J. ; Chatty, Kiran V. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 47 (2007-07-01), S. 1030-1035
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    On-chip electrostatic discharge protection for CMOS gas sensor systems-on-a-chip (SoC)
    Salcedo, Javier A. ; Afridi, Muhammad Y. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006-08-01), S. 1285-1294
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    Laser beam backside probing of CMOS integrated circuits
    Kasapi, Steven ; Somani, Seema ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 39 (1999-06-01), S. 957-961
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    New layout design for submicron CMOS output transistors to improve driving capability and ESD robustness
    Chang, H. H. ; Chen, T. Y. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 39 (1999-03-01), S. 415-424
    Online unknown
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