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    A comparative study of lifetime reliability of planar MOSFET and FinFET due to BTI for the 16 nm CMOS technology node based on reaction-diffusion model
    Soin, Norhayati ; Mohamed Mounir Mahmoud
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 97 (2019-06-01), S. 53-65
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    Investigation of negative DIBL effect for ferroelectric-based FETs to improve MOSFETs and CMOS circuits
    Li, Yangyang ; Wu, Zhenhua ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 114 (2021-08-01), S. 105110-105110
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    Electrical characterization and reliability of submicron SOI CMOS technology in the extended temperature range (to 300 °C)
    Safonov, Sergey O. ; Stakhin, Veniamin G. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 79 (2017-12-01), S. 416-425
    Online unknown
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    Quantification of the likelihood of single event multiple transients in logic circuits in bulk CMOS technology
    Desai, Madhav P. ; Rao, Nanditha P.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 72 (2018-02-01), S. 86-99
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    A customized genetic algorithm with in-loop robustness analyses to boost the optimization process of analog CMOS ICs
    Salvador Pinillos Gimenez ; Carlos Eduardo Thomaz ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 92 (2019-10-01), S. 104595-104595
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    Heterogeneous 3-D circuits: Integrating free-space optics with CMOS
    Berman, Rebecca ; Xu, Jie ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 50 (2016-04-01), S. 66-75
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    A novel switchable pin method for regulating power in chip-multiprocessor
    Peng, Lu ; Zhao, Zhou ; et al.
    In: Integration, Jg. 58 (2017-06-01), S. 329-338
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    Area-efficient dual-diode with optimized parasitic bipolar structure for rail-based ESD protections
    Chen, Zhong ; Lai, Pengyu ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 123 (2021-08-01), S. 114194-114194
    Online unknown
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    Towards high-sensitive built-in current sensors enabling detection of radiation-induced soft errors
    Rodrigo Possamai Bastos ; Frank Sill Torres ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 78 (2017-11-01), S. 190-196
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    Analysis of aging effects - From transistor to system level
    Hellwege, Nico ; Taddiken, Maike ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 67 (2016-12-01), S. 64-73
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    MOSFET dynamic thermal sensor for IC testing applications
    Altet, Josep ; Perpiñà, Xavier ; et al.
    In: Sensors and Actuators A: Physical, Jg. 242 (2016-05-01), S. 195-202
    Online unknown
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    A parallel auto-adaptive topology for integrated energy harvesting system
    Luis Antonio Carrillo-Martinez ; Guillermo Espinosa Flores-Verdad ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 98 (2020-04-01), S. 104736-104736
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    A regulated multiple-output high-voltage charge pump IC for implantable neural stimulators
    Abdi, Alfian ; Cha, Hyouk-Kyu
    In: Microelectronics Journal, Jg. 92 (2019-10-01), S. 104617-104617
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    Localisation of heat sources in electronic circuits by microthermal laser probing
    Schaub, E. ; Altet, Josep ; et al.
    In: International Journal of Thermal Sciences, Jg. 39 (2000-04-01), S. 544-549
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Low-Power Low-Noise Monolithic Accelerometer with Automatic Sensor Offset Calibration
    Yeh, Chih-Yuan ; Tsai, Hann-Huei ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 105 (2020-11-01), S. 104910-104910
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design of linear dynamic range and high sensitivity matrix quadrant APDs ROIC for position sensitive detector application
    Zhu, Zhangming ; Ma, Rui ; et al.
    In: Microelectronics Journal, Jg. 63 (2017-05-01), S. 49-57
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    An ultra-low-power neural signal acquisition analog front-end IC
    Tran, Luat ; Cha, Hyouk-Kyu
    In: Microelectronics Journal, Jg. 107 (2021), S. 104950-104950
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Piecewise physical modeling of series resistance and inductance of on-chip interconnects
    Torres-Torres, Reydezel ; Cortes-Hernandez, Diego M. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 120 (2016-06-01), S. 1-5
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