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    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
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    $\pi$ -SCR Device for Broadband ESD Protection in Low-Voltage CMOS Technology
    Lai, Yu-Hsuan ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-09-01), S. 4107-4110
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    A Low-Power CMOS Current Reference for Piezoelectric Energy Harvesters
    Karlsen, Haakon ; Li, Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3403-3410
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    Carbon Nanotube-Based CMOS SRAM: 1 kbit 6T SRAM Arrays and 10T SRAM Cells
    Shulaker, Max M. ; Lau, Christian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-12-01), S. 5375-5380
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    Optimization Design on Active Guard Ring to Improve Latch-Up Immunity of CMOS Integrated Circuits
    Ker, Ming-Dou ; Chen, Chun-Cheng
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-04-01), S. 1648-1655
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    Investigation of Unexpected Latchup Path Between HV-LDMOS and LV-CMOS in a 0.25- $\mu \text{m}$ 60-V/5-V BCD Technology
    Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3519-3523
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    Chord-Fractal Capacitor in CMOS Technology
    Chien, Chun-Tsai ; Hsu, Heng-Ming
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-12-01), S. 4642-4646
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    Performance and Yield Benefits of Quasi-Planar Bulk CMOS Technology for 6-T SRAM at the 22-nm Node
    Tsukamoto, Yasumasa ; Sun, Xin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-07-01), S. 1846-1854
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    Modeling Interconnects for Post-CMOS Devices and Comparison With Copper Interconnects
    Naeemi, Azad ; Rakheja, Shaloo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-05-01), S. 1319-1328
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    Insights on Design and Scalability of Thin-BOX FD/SOI CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Chouksey, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-09-01), S. 2073-2079
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    High-Voltage-Tolerant ESD Clamp Circuit With Low Standby Leakage in Nanoscale CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-07-01), S. 1636-1641
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    CMOS-Based Multichip Networked Flexible Retinal Stimulator Designed for Image-Based Retinal Prosthesis
    Terasawa, Yasuo ; Tano, Yasuo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-11-01), S. 2577-2585
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    Measurement of Subnanosecond Delay Through Multiwall Carbon-Nanotube Local Interconnects in a CMOS Integrated Circuit
    Hon-Sum Philip Wong ; Yasuda, Shinichi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009), S. 43-49
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    Integration of RF MEMS and CMOS IC on a Printed Circuit Board for a Compact RF System Application Based on Wafer Transfer
    Yang, Rong ; Kwong, Dim-Lee ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-09-01), S. 2484-2491
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    An Evaluation of the CMOS Technology Roadmap From the Point of View of Variability, Interconnects, and Power Dissipation
    Boeuf, Frederic ; Farcy, Alexis ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-06-01), S. 1433-1440
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    Transistor-and Circuit-Design Optimization for Low-Power CMOS
    Lu, Lee-Chung ; Chang, Chih-Sheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008), S. 84-95
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    Investigation of a Sequential Three-Dimensional Process for Back-Illuminated CMOS Image Sensors With Miniaturized Pixels
    Giffard, B. ; Coudrain, P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-11-01), S. 2403-2413
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    A Novel Low-Cost Trigate Process Suitable for Embedded CMOS 1T-1C Pseudo-SRAM Application
    Xiong, Weize ; Zaman, R.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-03-01), S. 448-455
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    Local clustering 3-D stacked CMOS technology for interconnect loading reduction
    Zhang, Shengdong ; Lin, Xinnan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-06-01), S. 1405-1410
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    CMOS device noise considerations for terabit lightwave systems
    Jindal, Renuka P. ; Dronavalli, S.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-04-01), S. 623-630
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