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  1. Young, Ian A. ; Bohr, Mark T.
    In: IEEE Micro, Jg. 37 (2017-11-01), S. 20-29
    Online unknown
  2. Li, Cheng ; Chen, Qi ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-05-01), S. 630-632
    Online unknown
  3. Lee, Yao-Jen ; Yeh, Mu-Shih ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 589-593
    Online unknown
  4. Bian, Jingchang ; Chang, Hao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 38 (2019-04-01), S. 755-766
    Online unknown
  5. Martins, Mayler G. A. ; Mehmet Meric Isgenc ; et al.
    In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, Jg. 26 (2018-09-01), S. 1627-1636
    Online unknown
  6. Somu, Sivasubramanian ; Vittoria, Carmine ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-08-01), S. 3229-3235
    Online unknown
  7. Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-05-01), S. 1996-2002
    Online unknown
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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