Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
294 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Schlagwort

Verlag

Sprache

294 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    A Study on the Isolation Ability of <u>LOC</u>al <u>O</u>xidation of <u>SiC</u> (LOCOSiC) for 4H-SiC CMOS Process
    Chia Lung Hung ; Yu Xin Wen ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6644-6647
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Reconfigurable MoTe2 Field-Effect Transistors and its Application in Compact CMOS Circuits
    Chen, Jing ; Wu, Xiao-Ming ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), S. 4748-4753
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    The Impact of Holding Voltage of Transient Voltage Suppressor (TVS) on Signal Integrity of Microelectronics System With CMOS ICs Under System-Level ESD and EFT/Burst Tests
    Shen, Yu-Shu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-05-01), S. 2152-2159
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    $\pi$ -SCR Device for Broadband ESD Protection in Low-Voltage CMOS Technology
    Lai, Yu-Hsuan ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-09-01), S. 4107-4110
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    A Low-Power CMOS Current Reference for Piezoelectric Energy Harvesters
    Karlsen, Haakon ; Li, Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3403-3410
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Carbon Nanotube-Based CMOS SRAM: 1 kbit 6T SRAM Arrays and 10T SRAM Cells
    Shulaker, Max M. ; Lau, Christian ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-12-01), S. 5375-5380
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Optimization Design on Active Guard Ring to Improve Latch-Up Immunity of CMOS Integrated Circuits
    Ker, Ming-Dou ; Chen, Chun-Cheng
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-04-01), S. 1648-1655
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Investigation of Unexpected Latchup Path Between HV-LDMOS and LV-CMOS in a 0.25- $\mu \text{m}$ 60-V/5-V BCD Technology
    Dai, Chia-Tsen ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 64 (2017-08-01), S. 3519-3523
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    New Concerns on Heavy Ion Irradiation Induced Variation Degradation in Nanoscale CMOS Devices
    Zhang, Xing ; An, Xia ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2142-2146
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Flexible Lightweight CMOS-Enabled Multisensory Platform for Plant Microclimate Monitoring
    Shaikh, Sohail F. ; Qaiser, Nadeem ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, 2018, S. 1-7
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Chord-Fractal Capacitor in CMOS Technology
    Chien, Chun-Tsai ; Hsu, Heng-Ming
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-12-01), S. 4642-4646
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Performance and Yield Benefits of Quasi-Planar Bulk CMOS Technology for 6-T SRAM at the 22-nm Node
    Tsukamoto, Yasumasa ; Sun, Xin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-07-01), S. 1846-1854
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Modeling Interconnects for Post-CMOS Devices and Comparison With Copper Interconnects
    Naeemi, Azad ; Rakheja, Shaloo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 58 (2011-05-01), S. 1319-1328
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Insights on Design and Scalability of Thin-BOX FD/SOI CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Chouksey, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-09-01), S. 2073-2079
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    High-Voltage-Tolerant ESD Clamp Circuit With Low Standby Leakage in Nanoscale CMOS Process
    Lin, Chun-Yu ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-07-01), S. 1636-1641
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Characterization of SOS-CMOS FETs at Low Temperatures for the Design of Integrated Circuits for Quantum Bit Control and Readout
    Brawley, A. ; Clark, R. G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010-02-01), S. 539-547
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A 65-nm High-Frequency Low-Noise CMOS-Based RF SoC Technology
    Huang, S. ; Yang, Dajiang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 57 (2010), S. 328-335
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CMOS-Based Multichip Networked Flexible Retinal Stimulator Designed for Image-Based Retinal Prosthesis
    Terasawa, Yasuo ; Tano, Yasuo ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-11-01), S. 2577-2585
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Isolation of Highly Doped Implants on Low-Doped Active Layers for CMOS Radiation Drift Detectors
    Langfelder, Giacomo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 56 (2009-08-01), S. 1767-1773
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -